折射仪光学原理演示系统技术方案

本实用新型专利技术提供了一种折射仪光学原理演示系统，包括仪器底座、光源、透镜，所述光源为激光单色光源，还包括遮光盖、反射镜、标尺，所述仪器底座设有透明的观察面，所述遮光盖与所述仪器底座配合构成密封腔体，所述光源、透镜、反射镜、标尺的位置满足如下关系：光线从光源发出，经过透镜，发生全反射时反射光线经过反射镜，经过反射镜反射的光线射到标尺上。本实用新型专利技术将复杂的光学原理通过模拟、实时展示，从而达到简化理论教学的目的。通过光路运行到折射率的读取，整个过程直观演示，从而使操作折射仪及读取数据的过程更加直观明了。（*该技术在2020年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及光学教学领域，尤其涉及珠宝专业教学领域。
技术介绍
常规珠宝鉴定检测中，折射率测量可以作为鉴定检测一个重要手段。大部分常见 宝石折射率的可以通过阿贝型光学折射仪进行测量得到。阿贝型光学折射仪能够准确检测 刻面型和弧面型宝石折射率，尤其对于刻面型宝石折射率值的测量可以达到士0. 002的精 度，同时对测试过程中出现的现象和测试结果进行分析，可以用来判断宝石的光性、轴性等 性质。这些结论的得出对宝玉石品种的鉴别起到非常重大的作用。折射仪基本工作原理是光的全反射原理，现有的教学方法和手段没办法清晰展示 给学生折射仪内部光学原理，使得学生在理解折射仪基本工作原理上存在很大困难，对后 续正确操作使用折射仪，正确分析测量过程中出现的现象造成一定的影响。
技术实现思路
为了解决现有技术中的现有的教学方法和手段没办法清晰展示给学生折射仪内 部光学原理，使得学生在理解折射仪基本工作原理上存在很大困难的问题，本技术提 供了一种折射仪光学原理演示系统。一种折射仪光学原理演示系统，包括仪器底座、光源、透镜，所述光源为激光单色 光源，还包括遮光盖、反射镜、标尺，所述仪器底座设有透明的观察面，所述遮光本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种折射仪光学原理演示系统，包括仪器底座（１）、光源、透镜，其特征在于：所述光源为激光单色光源，还包括遮光盖（２）、反射镜（３）、标尺（４），所述仪器底座（１）设有透明的观察面，所述遮光盖（２）与所述仪器底座（１）配合构成密封腔体，所述光源、透镜、反射镜、标尺的位置满足如下关系：光线从光源发出，经过透镜，发生全反射时反射光线经过反射镜，经过反射镜反射的光线射到标尺上。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：廖任庆，徐思海，李勋贵，
申请(专利权)人：深圳技师学院，
类型：实用新型
国别省市：94