【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及，适用于各种相数结构 的开关磁阻电机定子绕组的短路故障诊断。
技术介绍
开关磁阻电机定子绕组绝缘易污染、腐蚀、老化及热解，定子绕组绝缘性能会降 低，会导致定子绕组短路。及时准确的定子绕组短路故障诊断可以阻止定子绕组短路故障 的扩大，减小定子绕组短路故障引起的损失。针对开关磁阻电机定子绕组短路的故障检测 与诊断技术研究虽然已经逐渐引起国内外研究者的广泛关注，然而多是基于定性的理论分 析或是将其故障状态与正常状态的性能作对比分析，少有定量的故障特征提取方法，缺少 有实用价值的故障诊断方法。开关磁阻电机自身严重的非线性特性、独特的控制方式和非 正弦非直流电流/电压供电方式，也给其定子绕组短路故障诊断的研究带来了不小的难 度，传统电机的故障诊断方法无法直接应用到开关磁阻电机中。
技术实现思路
本专利技术的目的是克服已有技术中的不足之处，提供一种基于相电流负序分量与正 序分量的幅值比作为故障特征量的开关磁阻电机定子绕组短路故障诊断方法。本专利技术的目的是这样实现的检测开关磁阻电机的相电流，由公式权利要求1. ，其特征在于 检测开关磁阻电机的相电流，由公式全文摘要，通过检测开关磁阻电机的相电流，计算出相电流的负序分量与正序分量，将相电流负序分量幅值与正序分量幅值的比值作为故障特征量，来诊断开关磁阻电机定子绕组是否有短路故障。故障诊断可靠，不受工况条件的影响，效果明显，性价比高、实用性强，效果好，具有广泛的应用前景。文档编号G01R31/06GK102081129SQ20101055068公开日2011年6月1日 申请日期2010年11月10日 优先权日20...
【技术保护点】
一种开关磁阻电机定子绕组短路故障诊断方法，其特征在于：检测开关磁阻电机的相电流，由公式：＊＊＊Ｘ＝Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，．．．，计算出，相电流的负序分量幅值Ｉ↓［Ｘ（２）］↑［·］与正序分量幅值Ｉ↓［Ｘ（１）］↑［·］，以及相电流的负序分量幅值Ｉ↓［Ｘ（２）］↑［·］与正序分量幅值Ｉ↓［Ｘ（１）］↑［·］的比值；式中，Ｉ↓［Ａ１］、Ｉ↓［Ｂ１］、Ｉ↓［Ｃ１］、Ｉ↓［Ｄ１］、．．．Ｉ↓［ｍ１］分别为从实际开关磁阻电机相电流提取的各相基波分量幅值；φ↓［Ａ］、φ↓［Ｂ］、φ↓［Ｃ］、φ↓［Ｄ］、．．．φ↓［ｍ］分别为各相电流初始相位；ω为当前的相电流角频率，ｍ为相数，ｔ为时间，系数β＝ｅ↑［ｊ２π／ｍ］，ｊ为复数虚部符号；Ｉ↓［Ｘ（０）］↑［·］为相电流的零序分量，Ｉ↓［Ｘ（３）］↑［·］为相电流的半零序分量，Ｉ↓［Ｘ（ｍ－１）］↑［·］为相电流的高序分量；将相电流的负序分量幅值Ｉ↓［Ｘ（２）］↑［·］与正序分量幅值Ｉ↓［Ｘ（１）］↑［·］的比值作为故障特征量，来诊断开关磁阻电机定子绕组是否有短路故障；当相电流的负序分量幅值Ｉ↓［Ｘ（２）］↑［·］与正序分量幅值Ｉ↓［Ｘ（１）］↑［·］的比值稳定...
【技术特征摘要】
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