自动识别校正触摸屏的方法技术

本发明专利技术涉及一种自动识别校正触摸屏的方法，其利用触摸屏上前后两个时刻所形成的能量状态图谱之差和预设阀值作比较从而判断是否是干扰值。本发明专利技术所述的方法，由于利用各条扫描线上所侦测到的能量图谱的变化来自动校正触摸屏，方法不但简单，而且即使触摸屏上电时的初始环境有变化，也不影响自动校正的步骤。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种校正触摸屏的方法，尤其是指。
技术介绍
随着科技的高速发展，电子类产品已发生了天翻地覆的变化，随着近来触控式电子类产品的问世，触控产品已越来越多的受到人们的追捧，不但其可节省空间，方便携带， 而且用户通过手指或者触控笔等就可直接操作，使用舒适，非常便捷。例如，目前市场常见的个人数字处理(PDA)、触控类手机、手提式笔记型电脑等等，都已加大对触控技术的投入， 所以触控式装置将来必在各个领域有更加广泛的应用。目前，电容式触控面板由于耐磨损、寿命长、而且在光损失和系统功效上更具优势，所以近来电容式触控面板受到了市场的追捧，各种电容式触摸屏产品纷纷面世，电容式触控面板的工作原理一般是通过触控芯片来感应面板的电容变化从而判断手指的位置和动作，但是对电容式触摸屏而言，即使没有手指触碰触摸屏，由于外界环境不可避免的一些干扰，比如温度、湿度、电磁等影响，所述触摸屏侦测到的感应量也会处于一个不断变化的过程中，而若外界干扰的影响过大就不能准确的侦测出手指触碰的具体位置。为了克服上述缺点，虽然目前业界也针对性的提出了一些解决办法，比如通过设置感应量的门槛值来排除由于外界干扰带来的影响，从而认为只有大于该门槛值的感应量才被认为有触碰操作，但是这种方法也仍然不能精确的排除外界干扰。因此需要为广大用户提供一种更加简便的方法来解决以上问题。
技术实现思路
本专利技术实际所要解决的技术问题是如何提供一种。为了实现本专利技术的上述目的，本专利技术提供了一种，其包括以下步骤首先，侦测通电时触摸屏上各条扫描线上电容参数的能量状态图谱；其次， 侦测下一时刻触摸屏上各条扫描线上电容参数的能量状态图谱；最后，求出上述能量状态图谱之差并与预设阀值作比较；若其差值在阀值范围之内，则认为是干扰值，继续侦测下一时刻的能量状态图谱；若其差值不在所述阀值范围之内，则认为不是干扰值。本专利技术所述的，利用各条扫描线上所侦测到的能量图谱的变化来自动校正触摸屏，方法不但简单，而且即使触摸屏上电时的初始环境有变化，也不影响自动校正的步骤。附图说明图1是本专利技术触摸屏在Tl时刻各扫描线电容参数能量状态图；图2是本专利技术触摸屏在T2时刻各扫描线电容参数能量状态图。具体实施例方式下面结合附图和实施例对本专利技术作进一步的说明。本专利技术采用图像处理触摸屏的原理来达到自识别校正触摸屏的目的，所述触摸屏包括X和Y方向上若干扫描线，若当外界环境没有干扰的情况下，即在所谓的理想状态下， 在X和Y方向上侦测出各条扫描线上电容参数均为恒定值。但是由于外界环境的干扰，即使是调整到正常状态下的触摸屏再通电后，由于外界环境的干扰，此时侦测到X和Y方向上的扫描线上的电容参数就会不断变化，导致其电容值就不再相同。请参考图1所示，其为触摸屏上电一瞬间即在Tl时刻各条扫描线上电容参数的能量状态图谱P1，从图中可以看出，X和Y方向上每条扫描线上的电容参数都会不同程度上受到外界环境的干扰，而随着外界环境的不断变化，所述触摸屏上的电容参数会不断变化，如在T2时刻各条扫描线上电容参数变化后形成的能量状态图谱P2，请参考图2所示，依次类推，从而记录第N时刻各条扫描线上电容参数变化后形成的能量状态图谱Pn (未图示)。与图1相比较，从图2可以看出，X轴上的第三根扫描线和第六根扫描线会有所变化，而Y轴上第一根和第五根扫描线会有所变化。所以说在T2时刻所形成的电容参数的能量状态图谱P2相对于Tl时刻所形成的电容参数的能量状态图谱Pl有变化。由于触摸屏上电后，各条扫描线上所侦测的电容参数的能量状态图谱可能会略有变化，然后将Pl所对应的能量状态图和P2所对应的能量状态图进行比较，算出两个能量状态的差值是否在一个预设阀值PO内，若其差值在所述阀值PO之内，则可以推测在T2时刻电容参数的能量状态图谱未发生变化，即没有产生有效输入；若其差值在所述阀值PO之外，则可以推测在T2时刻电容参数的能量状态图谱发生了变化，且扫描线变化所在的位置就是触碰点所在的位置。更进一步说，若两个图谱的差值和预设的阀值PO做比较，若P2与 Pl的差值小于阀值P0，那么说明属于外界噪声干扰的范围值，则不需要存储此时侦测到的 T2时刻电容参数的能量状态图谱P2，仍旧保持Tl时刻扫描线上电容参数的能量状态图谱 Pl ；而若两个图谱的差值大于阀值P0，则表明有物体触碰该触摸屏，此时就需要存储P2时刻电容参数的能量状态图谱，将其作为有效输入记录。而物体触碰触摸屏的位置点就是能量状态图谱P2相对上一时刻图谱Pl有变化的位置点。同样道理，在任意一时刻侦测到的触摸屏上电容参数的能量状态图谱Pn，也需要和在Tl时刻各条扫描线上电容参数的能量状态图谱Pl做比较，并且根据其差值和阀值PO 比较从而实现自动识别到达校正的目的。所述阀值PO是根据研究者反复实践总结得出的经验值。由于本专利技术利用了前后两个状态电容参数的能量状态图谱的差值，所以即使外界干扰不断变化也不会影响触摸屏的自动识别，从而可以到达自动校正的目的。权利要求1.一种，其包括以下步骤首先，侦测通电时触摸屏上各条扫描线上电容参数的能量状态图谱； 其次，侦测下一时刻触摸屏上各条扫描线上电容参数的能量状态图谱； 最后，求出上述能量状态图谱之差并与预设阀值作比较；若其差值在阀值范围之内，则认为是干扰值，继续侦测下一时刻的能量状态图谱；若其差值不在所述阀值范围之内，则认为不是干扰值。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于上述差值若不在其阀值范围之内，则需存储此时的能量状态图谱。3.如权利要求1所述的方法，其特征在于上述差值若在其阀值范围之内，则不需存储此时的能量状态图谱。4.如权利要求1所述的方法，其特征在于若其差值不在所述阀值范围内，则认为有物体触碰。5.如权利要求4所述的方法，其特征在于所述物体触碰的位置点就是能量状态图谱相对上一时刻图谱有变化的位置点。6.如权利要求1至4中任意一项所述的方法，其特征在于所述阀值是预设经验值。7.如权利要求1所述的方法，其特征在于所述电容参数在外界环境的变化条件下会变化。全文摘要本专利技术涉及一种，其利用触摸屏上前后两个时刻所形成的能量状态图谱之差和预设阀值作比较从而判断是否是干扰值。本专利技术所述的方法，由于利用各条扫描线上所侦测到的能量图谱的变化来自动校正触摸屏，方法不但简单，而且即使触摸屏上电时的初始环境有变化，也不影响自动校正的步骤。文档编号G06F3/044GK102169398SQ201010550440公开日2011年8月31日 申请日期2010年11月19日 优先权日2010年11月19日专利技术者钟刚 申请人:苏州瀚瑞微电子有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种自动识别校正触摸屏的方法，其包括以下步骤：首先，侦测通电时触摸屏上各条扫描线上电容参数的能量状态图谱；其次，侦测下一时刻触摸屏上各条扫描线上电容参数的能量状态图谱；最后，求出上述能量状态图谱之差并与预设阀值作比较；若其差值在阀值范围之内，则认为是干扰值，继续侦测下一时刻的能量状态图谱；若其差值不在所述阀值范围之内，则认为不是干扰值。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：钟刚，
申请(专利权)人：苏州瀚瑞微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：32