近红外光谱法检测面粉中石灰类物质的方法技术

技术编号:6648744 阅读:323 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术提供了一种近红外光谱法检测面粉中石灰类物质的方法,其包括步骤:采集待测面粉样本的近红外光谱;根据石灰类物质和纯面粉的近红外光谱特征,判断所述待测面粉样本中是否含有石灰类物质。如果上述判断结果显示所述待测面粉样本中含有石灰类物质,还包括步骤:采集标准系列面粉样本的近红外光谱;根据所述标准系列面粉样本的近红外光谱,建立定量校正模型;根据所述定量校正模型,检测所述待测面粉样本中石灰类物质的含量。本发明专利技术所述近红外光谱法检测面粉中石灰类物质的方法,步骤简单、无污染,可以对面粉中是否含有石灰类物质进行快速定性检测;并且,结合标准系列面粉样本的近红外光谱及定量校正模型,可以对面粉中的多种石灰类物质进行同时快速定量测定,所得结果准确可靠。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及食品安全
,特别涉及一种。
技术介绍
面粉是人们日常食物的主要来源之一。面粉质量安全直接关系着人们的身体健康。然而近年来,面粉质量安全问题备受社会各界的广泛关注。除增白剂导致的问题面粉外,添加过量的石灰(氧化钙、氢氧化钙)、碳酸钙等无机污染物以获得增重等效果的问题面粉亦被频频曝光,不仅造成极大的负面影响,而且严重危害人们的饮食安全和身体健康。 目前尚未见到采用近红外光谱方法对面粉中掺入的石灰类物质进行检测的报道。对面粉中添加剂的传统检测方式以色谱分析法为主,其缺陷是需要对被检测样本进行分离和复杂的预处理,检测步骤繁琐,耗时长,且检测过程中使用化学试剂,造成环境污染,因此制约了其广泛的推广应用。近红外光谱(Near Infrared Spectroscopy, NIR)是最近几十年发展起来的分析技术,随着化学计量学的发展和计算机技术的进步,近红外光谱分析法具有快速、无损、对环境友好以及可以实现在线分析等优点,目前已被广泛地应用于农产品及食品的品质分析等诸多领域。由于人们对近红外光谱的传统认识,即含氢基团的合频与倍频吸收,以及无机物在近红外谱区的吸收特征或较弱、或较本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种近红外光谱法检测面粉中石灰类物质的方法,其特征在于,包括步骤:S100:采集待测面粉样本的近红外光谱;S200:根据石灰类物质和纯面粉的近红外光谱特征,判断所述待测面粉样本中是否含有石灰类物质。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:王纪华王冬马智宏韩平赵柳潘立刚
申请(专利权)人:北京市农林科学院
类型:发明
国别省市:11

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