用于土木工程结构表观缺陷评定的双CCD检测方法及系统技术方案

技术编号:6455384 阅读:241 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
用于土木工程结构表观缺陷评定的双CCD检测方法及其设备,方法包括如下方法:表观缺陷双CCD检测系统的结构配置方法、双CCD检测方法的特征点空间坐标计算方法、结构表观缺陷图像特征点的匹配方法和结构表观缺陷尺寸的评定方法。该检测系统由双CCD相机、支架、双路图像采集卡、计算机和表观缺陷检测评定软件组成,双CCD相机安装在支架上,双CCD相机通过导线连接到双路图像采集卡上,双路图像采集卡安装在计算机上,由评定软件控制系统实现结构表观缺陷图像的采集处理评定。本发明专利技术具有双CCD同步采集、图像显示存储、特征匹配、缺陷损伤评定以及提供检测报告的功能,并具有实时采集、快速处理的优点,适于工程结构现场测量。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及的是一种土木工程结构缺陷检测
,具体地说是一种用于土木工程结构表观缺陷评定的双CCD检测方法及系统
技术介绍
由于外部环境的变化以及人为失误的影响,土木工程结构在服役过程中会出现各种不同程度的损伤,而混凝土结构的缺陷大多始发于或显露于结构表面,如裂缝、孔洞、腐蚀坑、凹槽等,使整体结构的安全性、完整性及可使役性降低,影响结构的正常使用。这些缺陷的存在严重地威胁着结构的安全可靠性,可能导致结构失稳或强度破坏,严重甚至影响工程的正常运行和效益的发挥。为了保证安全生产,因此必须定期对结构进行检测和安全评估。土木工程结构表观缺陷传统的检测方法主要靠目测,由检测人员进行肉眼观察或探摸。这样目测只能大概估计裂缝的尺寸范围,而不能得到精确的结果;而且,由于自身条件的限制,使目测方法具有检测能力有限、检测可靠性低、检测时间长、费用高等缺点。为了提高检测效率与精度,降低劳动强度,节省检测费用,人们一直都在探索更有效的检测手段和方法。CCD检测成像技术作为一种重要的无损检测手段,具有速度快、非接触、较高精度、 操作简单等优点,在许多领域内发挥了巨大作用,在土木工程领域将为结构表观缺陷的检测提供一种新的技术支持。而采用双CCD检测方法不但可评定土木工程结构表观缺陷的面内尺寸,还可实现缺陷尺寸的离面深度测量,能够更好地满足工程检测的实际需求。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种适用于土木工程结构表观缺陷评定的双CCD检测方法及其系统。一种用于土木工程结构表观缺陷评定的双CXD检测方法如下 (1)表观缺陷双CXD检测系统的结构配置方法 为了从二维图像中获得结构表观缺陷特征点的空间坐标,双CCD相机需从不同位置获取包含结构表观缺陷特征点的两幅图像;将两个CCD相机从不同角度交叉摆放观测同一被测物体,双CCD检测系统的结构配置首先要确定单个CCD相机的视角,然后针对工程应用的实际情况,设计两个CCD相机之间的基线距离B与夹角α,以获取最佳的公共视场,为获得实际检测中CCD相机的视角,需使CCD相机与一平面垂直,调整CCD相机与结构表面的距离,使图像清晰,且让CXD相机的光轴指向平面上的十字中心,且让CXD相机的光轴指向平面上的十字中心,在十字中心相互垂直的方向上,放置两个标尺,然后进行拍照,根据图像中的所能够拍摄到的标尺的距离,即可计算出CCD相机在水平方向和竖直方向上的视角,最后根据两个CCD相机的基线距离、摄像机与基线的夹角和摄像机的视角,就可以计算出双CCD检测系统的公共视场; (2)双CXD检测方法的特征点空间坐标计算方法 双CCD相机在同一时刻观看结构表面某特征点P,分别使用左右CCD相机获取P点的图像,它们的图像坐标分别为P1 = (X1, Y1), Pr = (U),当两CXD相机的图像平面在同一个平面上,则特征点P的图像坐标的Y坐标相同,即Ylrft = Yright = Y,由透视变换原理得到本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于土木工程结构表观缺陷评定的双CCD检测方法,其特征在于,方法如下:(1)表观缺陷双CCD检测系统的结构配置方法:为了从二维图像中获得结构表观缺陷特征点的空间坐标,双CCD相机需从不同位置获取包含结构表观缺陷特征点的两幅图像;将两个CCD相机从不同角度交叉摆放观测同一被测物体,首先要确定单个CCD相机的视角,然后针对工程应用的实际情况,设计两个CCD相机之间的基线距离B与夹角α,以获取最佳的公共视场,为获得实际检测中CCD相机的视角,需使CCD相机与一平面垂直,调整CCD相机与结构表面的距离,使图像清晰,且让CCD相机的光轴指向平面上的十字中心,且让CCD相机的光轴指向平面上的十字中心,在十字中心相互垂直的方向上,放置两个标尺,然后进行拍照,根据图像中的所能够拍摄到的标尺的距离,即可计算出CCD相机在水平方向和竖直方向上的视角,最后根据两个CCD相机的基线距离、摄像机与基线的夹角和摄像机的视角,就能够计算出双CCD检测系统的公共视场;(2)双CCD检测方法的特征点空间坐标计算方法:双CCD相机在同一时刻观看结构表面某特征点P,分别使用左右CCD相机获取P点的图像,它们的图像坐标分别为Pl=(Xl,Yl),Pr=(Xr,Yr),当两CCD相机的图像平面在同一个平面上,则特征点P的图像坐标的Y坐标相同,即Yleft=Yright=Y,由透视变换原理得到:(math)??(mrow)?(msub)?(mi)X(/mi)?(mi)left(/mi)?(/msub)?(mo)=(/mo)?(mi)f(/mi)?(mfrac)?(msub)?(mi)x(/mi)?(mi)c(/mi)?(/msub)?(msub)?(mi)z(/mi)?(mi)c(/mi)?(/msub)?(/mfrac)?(/mrow)?(/math)(math)??(mrow)?(msub)?(mi)X(/mi)?(mi)right(/mi)?(/msub)?(mo)=(/mo)?(mi)f(/mi)?(mfrac)?(mrow)?(mo)((/mo)?(msub)?(mi)x(/mi)?(mi)c(/mi)?(/msub)?(mo)-(/mo)?(mi)B(/mi)?(mo))(/mo)?(/mrow)?(msub)?(mi)z(/mi)?(mi)c(/mi)?(/msub)?(/mfrac)?(/mrow)?(/math)(math)??(mrow)?(mi)Y(/mi)?(mo)=(/mo)?(mi)f(/mi)?(mfrac)?(msub)?(mi)y(/mi)?(mi)c(/mi)?(/msub)?(msub)?(mi)z(/mi)?(mi)c(/mi)?(/msub)?(/mfrac)?(/mrow)?(/math)则时差为:Disparity=|Xleft-Xright|=Xleft-Xright;由此计算出结构表面特征点在双CCD检测系统坐标系下的空间坐标为:(math)??(mfencedopen='{'close='')?(mtable)?(mtr)?(mtd)?(msub)?(mi)x(/mi)?(mi)c(/mi)?(/msub)?(mo)=(/mo)?(mfrac)?(mrow)?(mi)B(/mi)?(mo)·(/mo)?(msub)?(mi)X(/mi)?(mi)l(/mi)?(/msub)?(/mrow)?(mi)Disparity(/mi)?(/mfrac)?(/mtd)?(/mtr)?(mtr)?(mtd)?(msub)?(mi)y(/mi)?(mi)c(/mi)?(/msub)?(mo)=(/mo)?(mfrac)?(mrow)?(mi)B(/mi)?(mo)·(/mo)?(mi)Y(/mi)?(/mrow)?(mi)Disparity(/mi)?(/mfrac)?(/mtd)?(/mtr)?(mtr)?(mtd)?(msub)?(mi)z(/mi)?(mi)c(/mi)?(/msub)?(mo)=(/mo)?(mfrac)?(mrow)?(mi)B(/mi)?(mo)·(/mo)?(mi)f(/mi)?(/mrow)?(mi)Disparity(/mi)?(/mfrac)?(/mtd)?(/mtr)?(/mtable)?(/mfenced)?(/math)因此左CCD相机面上的任意一点只要能够在右CCD相机像面上找到对应的匹配点,即二者是空间同一点在左右CCD相机上的点,就能够根据双CCD相机的固有几何约束确定出结构表观缺陷特征点的空间坐标,此种方法是点对点的运算,图像上所有点只要存在匹配点,就能够参与上述运算,从而获取结构表观缺陷特征点的的空间坐标,因而测量...

【技术特征摘要】
1. 一种用于土木工程结构表观缺陷评定的双CCD检测方法,其特征在于,方法如下(1)表观缺陷双CCD检测系统的结构配置方法为了从二维图像中获得结构表观缺陷特征点的空间坐标,双CCD相机需从不同位置获取包含结构表观缺陷特征点的两幅图像;将两个CCD相机从不同角度交叉摆放观测同一被测物体,首先要确定单个CCD相机的视角,然后针对工程应用的实际情况,设计两个CCD相机之间的基线距离B与夹角α,以获取最佳的公共视场,为获得实际检测中CCD相机的视角,需使CXD相机与一平面垂直,调整CXD相机与结构表面的距离,使图像清晰,且让CXD相机的光轴指向平面上的十字中心,且让CCD相机的光轴指向平面上的十字中心,在十字中心相互垂直的方向上,放置两个标尺,然后进行拍照,根据图像中的所能够拍摄到的标尺的距离,即可计算出CCD相机在水平方向和竖直方向上的视角,最后根据两个CCD相机的基线距离、摄像机与基线的夹角和摄像机的视角,就能够计算出双CCD检测系统的公共视场;(2)双CCD检测方法的特征点空间坐标计算方法双CCD相机在同一时刻观看结构表面某特征点P,分别使用左右CCD相机获取P点的图像,它们的图像坐标分别为P1= (X1, Y1), Pr = (U),当两C⑶相机的图像平面在同一个平面上,则特征点P的图像坐标的Y坐标相同,即Ylrft = Yright = Y,由透视变换原理得到则时差为 disparity = Xieft-Xright = Xleft-Xright ;由此计算出结构表面特征点在双CCD检测系统坐标系下的空间坐标为因此左CXD相机面上的任意一点只要能够在右CXD相机像面上找到对应的匹配点, 即二者是空间同一点在左右CCD相机上的点,就能够根据双CCD相机的固有几何约束确定出结构表观缺陷特征点的空间坐标,此种方法是点对点的运算,图像上所有点只要存在匹配点,就能够参与上述运算,从而获取结构表观缺陷特征点的的空间坐标,因而测量效率较尚;(3)结构表观缺陷图像特征点的匹配方法表观缺陷图像特征点的匹配是通过图像匹配的方法,寻找出两幅图像中特征点之间相互的对应关系,从而确定出同一个特征点分别在两幅图像中的坐标,缺陷图像的特征匹配需要对两幅表观缺陷图像进行特征提取,可采用Harris角点提取算法、SUSAN角点提取算法或SIFT特征点提取算法;在获取图像的坐标时,采用交互识别和自动特征匹配两种方法,先通过自动匹配方法进行特征点的匹配,如匹配结果不能够达到要求,再使用交互识别的方法进行匹配,在双CCD检测方法中,对应特征点的匹配主要是两幅图像中点、边缘或者区域等几何基元的相似程度,再由同一特征点分别投影到两幅图像中形成的对应点的图像坐标,就能够根据双CCD检测方法的数学模型计算出特征点的空间坐标; (4)结构表观缺陷尺寸的评定方法在获取到结构表观缺陷特征点的空间坐标之后,缺陷的长度就可按空间中两点的距离...

【专利技术属性】
技术研发人员:单宝华
申请(专利权)人:哈尔滨工业大学
类型:发明
国别省市:93

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