用于提高软X射线线偏振度的反射式偏振元件制造技术

技术编号:6364098 阅读:270 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本实用新型专利技术公开了一种用于提高软X射线线偏振度的反射式偏振元件,该偏振元件为人工晶体制成的反射式偏振晶片,该反射式偏振晶片具有被抛光处理的反射镜面。其通过人工晶体制成的反射式偏振元件可以获取高线偏振度的软X射线。(*该技术在2020年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
1.一种用于提高软X射线线偏振度的反射式偏振元件,其特征在于:该偏振元件为人工晶体制成的反射式偏振晶片,该反射式偏振晶片具有被抛光处理的反射镜面。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:赵佳
申请(专利权)人:北京工商大学
类型:实用新型
国别省市:11[中国|北京]

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