验证环境图形化的芯片验证方法与装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种验证环境图形化的芯片验证方法与装置，涉及芯片设计流程中的EDA验证领域，方法包括步骤：新建测试用例，按照功能测试点进行分组，通过图形化的方式自动生成芯片验证所需的输入文件，并进行仿真器的参数配置；运行测试用例，直接与仿真器交互，并将仿真器的编译和仿真信息通过图表的形式显示；观察测试结果，如果通过测试，则进行下一个测试用例的验证；如果发现错误用例，则待完成代码的修改后，再进行回归测试。本发明专利技术能实现芯片验证的图形化操作和管理，不仅省去了测试人员学习新的验证语言的时间，而且芯片验证的过程也变得简单直观，因此降低了测试人员的学习成本，大大缩短了芯片验证的周期，提高了芯片验证的效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及芯片设计流程中的EDA (Electronic Design Automation,电子设计自动化)验证领域，特别是涉及一种验证环境图形化的芯片验证方法与装置。
技术介绍
目前，集成电路的功能验证约占整个芯片开发过程投入的60% -70%，是项目成功的关键之一，也是整个芯片设计流程中非常重要的部分。在集成电路芯片的设计中， 验证是芯片设计流程中最复杂、最耗时的环节之一，而且随着微电子技术的迅猛发展， ASIC (Application Specific Integrated Circuit，专用集成电路)的规模越来越大，通常一个芯片的规模在几百万门甚至几千万门左右，如此高的复杂度，给芯片验证带来了不小的挑战。在传统的芯片功能验证中，验证工程师需要开发大量的测试，通过人工方法来观测和检查芯片设计中的错误，但是当电路规模发展到一定程度时，这种方法显然已经不能再满足产品的要求。因此，如何快速搭建一个强大、高效、灵活、可扩展性好的芯片验证平台，对芯片设计中的复杂功能进行充分的验证，提高芯片验证的自动化程度，从而缩短总体产品开发时间，提高芯片验证的效率，成为芯片设计成功的关键因本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种验证环境图形化的芯片验证方法，其特征在于包括以下步骤：Ａ、新建测试用例，按照功能测试点进行分组，通过图形化的方式自动生成芯片验证所需的输入文件，并进行仿真器的参数配置；Ｂ、运行测试用例，直接与仿真器交互，并将仿真器的编译和仿真信息通过图表的形式显示；Ｃ、观察测试结果，如果通过测试，则进行下一个测试用例的验证；如果发现错误用例，则待完成代码的修改后，再进行回归测试。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：林子，袁博浒，柏帆，杜明鲜，
申请(专利权)人：烽火通信科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：83