数控机床转台温升特性测试装置和方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及数控机床转台温升特性测试装置和方法，包括角位移测量单元、温度测量单元、信息处理单元和辅助功能单元，所述角位移测量单元和温度测量单元分别和信息处理单元通过总线连接，所述辅助功能单元和信息处理单元电气连接；所述温度测量单元包括红外透镜、光隔离器、主要光电探测器、参考光电探测器和环境温度传感器；所述信息处理单元包括显示功能模块、放大滤波模块和PLC；所述辅助功能单元包括接口电路模块和电源模块；上述温度测量单元的红外透镜和光隔离器连接，主要光电探测器、参考光电探测器和环境温度传感器分别与信息处理单元的放大滤波模块连接。本发明专利技术的有益效果：提高了数控机床转台温升特性测试的准确性和实时性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于测试
，具体涉及数控机床转台温升特性测试技术。
技术介绍
数控机床转台是一种集光机电于一体的，广泛应用于军用和民事工业设备中的功能性单元。数控机床转台在其使用的过程中，由于普遍存在的机械摩擦及电热能的转化，不可避免的出现发热现象，引起转台温度的上升。这种温度的上升势必会对转台定位精度产生影响。为了能够测试数控机床转台的定位精度随温度的变化情况，以便数控系统分析数控机床转台的热稳定性，需要对转台的温度以及定位精度进行准确的测量。目前，在工厂实践中所采用的测量方式，一般是利用专门的测温仪器和机床自带的角位移测量装置分别得到转台的温度变化数据和角位移的数据。这样由于温度和角位移信号测取的不同步，对实时分析数控机床转台的温升特性带来困难。另外，现有的温度测量仪器往往只测量机床转台表面温度，没有考虑环境温度的影响，也没有实时的对温度测量仪器进行误差校正，这样造成温度测量结果不准确和仪器适应环境能力差等。从实时精确分析转台温升特性的角度出发，我们需要一种能够准确、实时、同步测量数控机床转台定位精度随温度变化情况的方法及其装置，来测试转台的温升特性。专利
技术实现思路
本专利技术的本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．数控机床转台温升特性测试装置，包括角位移测量单元（１）、温度测量单元（２）、信息处理单元（４）和辅助功能单元（５），其特征在于，所述角位移测量单元（１）和温度测量单元（２）分别和信息处理单元（４）通过总线连接，所述辅助功能单元（５）和信息处理单元（２）电气连接；所述温度测量单元（２）包括红外透镜（２１）、光隔离器（２２）、主要光电探测器（２３）、参考光电探测器（２４）和环境温度传感器（２５）；所述信息处理单元（４）包括显示功能模块（４１）、放大滤波模块（４２）和ＰＬＣ（４３）；所述辅助功能单元（５）包括接口电路模块（５１）和电源模块（５２）；上述温度测量单元（２）的红外透镜（２１）和光隔离...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：戴跃洪，黎亚元，廖敏，唐传胜，甄文喜，郝康琦，
申请(专利权)人：电子科技大学，
类型：发明
国别省市：90