The present invention relates to image diagnosis apparatus and method for measuring absolute X-ray, includes X-ray source, set in accordance with the direction of ray shielding body, thick pinhole, scintillator, plane mirror and the imaging unit, a scintillator for forming a visible light image and visible light image by plane mirror on the incident to the plane mirror imaging unit. Including the setting of the first parallel plane mirror and the second plane mirror, the first plane mirror for reflecting light through the scintillator and reflected to the second mirror is arranged in the direction of the X-ray detector. The invention solves the problems by using X ray equivalent calibration method image diagnosis system for imaging the contribution of ray detection test results uncertainty analysis of technical problems in the complex process system of the invention has simple structure, low cost, and it has good operability.
【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于射线绝对测量方法，具体涉及一种应用于图像诊断系统的射线绝对测量方法。
技术介绍
在物理实验和脉冲辐射探测领域中，射线源区射线图像诊断能够提供对源区物理过程的直观认识，对于研究和诊断其物理过程特性具有重要价值，图像诊断系统如图1所示。射线源1经过屏蔽体2之后，通过厚针孔3成像后在闪烁体4上形成可见光图像，经过平面镜5反射后进入成像单元6。实现图像诊断系统中射线的绝对测量，一般可以基于以下两种方法1、能谱测量法，通过得到射线源的能谱分布，结合探测系统得到的数据对射线进行绝对测量；2、选择能量响应平坦的探测器进行测量，不同能量的射线对应的输出信号相同或者相近，从而得到射线的绝对量。理论上讲，这两种方法做到任一种都可以满足实现射线绝对测量的要求，但是在实际操作过程中，两种方法都存在着不同的困难。能谱测量方法系统较为复杂，测量难度较大，能量响应平坦也是相对平坦，不能做到绝对平坦。一般而言需要根据实际情况选择不同的方法。在图像诊断系统中，还有一种近似的绝对测量方法。根据系统就位之后的强度标定曲线，对系统图像进行强度校正，像素灰度值0对应强度值0，像素灰度值最大...
【技术保护点】
１．用于图像诊断的射线绝对测量的装置，包括依次按照射线方向设置的射线源（１）、屏蔽体（２）、厚针孔（３）、闪烁体（４）、平面镜对和成像单元（６），所述闪烁体用于形成可见光图像并将可见光图像经过平面镜对入射至成像单元（６），所述平面镜对包括平行设置的第一平面镜（５）和第二平面镜（５０），所述第一平面镜（５）用于反射透过闪烁体（４）的光并反射至第二反射镜（５０），其特征在于：还包括设置在射线方向上的探测器（７）。
【技术特征摘要】
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