电子熔丝装置及其校正方法与操作电子熔丝装置的方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种电子熔丝装置及其校正方法与操作电子熔丝装置的方法，其中，电子熔丝装置包含：第一检查比特产生器，用于接收输入数据，并根据输入数据用预定错误校正码产生第一检查比特数据；程序设计单元，用于根据输入数据及第一检查比特数据产生多个熔断信号；以及电子熔丝阵列，用于接收多个熔断信号及地址数据，其中输入数据及第一检查比特数据是根据多个熔断信号及地址数据被记录在电子熔丝阵列之中。从电子熔丝阵列读取的数据被错误校正码校正，提高了电子熔丝阵列的成品率。

Electronic fuse device and correcting method thereof and method for operating electronic fuse device

The method of the invention provides an electronic fuse device and method of correcting and operating the electronic fuse device, electronic fuse device comprises: a first check bit generator for receiving the input data, and a predetermined error correction code generates a first check bit data according to the input data; programming unit for generating a plurality of fuse signal according to the input the first data and check bits of data; and the electronic fuse array, for receiving a plurality of fuse signal and address data, the input data and the first check bit data is based on a plurality of fuse signal and address data is recorded in the electronic fuse array. The data read from the electronic fuse array is corrected by the error correction code, thereby improving the yield of the electronic fuse array.

【技术实现步骤摘要】

本专利技术是关于电子熔丝(efuse)装置，且特别是关于电子熔丝装置及其校正方法 与操作电子熔丝装置的方法。
技术介绍
现在，电子熔丝熔断(blow)是电子熔丝应用的重要操作，且其性能取决于熔断 电压及熔断时间。每百万元件中的缺陷元件数(defectsparts per million，以下简称为 DPPM)测试是电子熔丝应用中十分重要的课题。如果电子熔丝阵列的熔断条件并不稳定， 那么熔断的电子熔丝的电阻值将会改变，所以其满足DPPM测试的结果，因此电子熔丝阵列 的成品率(yield)将会降低。然而，在实践中，电子熔丝阵列的熔断条件并不能达到最佳控 制。因此，亟需提供一种电子熔丝装置与一种能够校正从电子熔丝阵列读取的数据的 校正方法，从而改善电子熔丝阵列的成品率。
技术实现思路
为解决以上技术问题，本专利技术提供了一种电子熔丝装置及其校正方法与操作电子 熔丝装置的方法。本专利技术提供了 一种电子熔丝装置，用于根据地址数据记录输入数据，所述电子熔 丝装置包含第一检查比特产生器，用于接收输入数据，并根据输入数据用预定错误校正码 产生第一检查比特数据；程序设计单元，用于根据输入数据、地址数据及第一检查比特数据 产生多个熔断信号；以及电子熔丝阵列，用于接收多个熔断信号及地址数据，其中输入数据 及第一检查比特数据是根据多个熔断信号及地址数据被记录在电子熔丝阵列之中。本专利技术提供了 一种电子熔丝装置，用于根据地址数据记录输入数据，所述电子熔 丝装置包含第一检查比特产生器，用于接收输入数据，并根据输入数据用预定错误校正码 产生第一检查比特数据；程序设计单元，耦接于第一检查比特产生器，用于根据输入数据、 地址数据及第一检查比特数据产生多个熔断信号；电子熔丝阵列，用于根据多个熔断信号 及地址数据将输入数据及第一检查比特数据记录在电子熔丝阵列之中；第二检查比特产生 器，耦接于电子熔丝阵列，用于根据地址数据从电子熔丝阵列读取记录数据，并根据记录数 据用预定错误校正码产生第二检查比特数据；征状产生器，耦接于第二检查比特产生器，用 于根据第二检查比特数据产生校正数据；以及校正器，耦接于电子熔丝阵列与征状产生器， 用于从电子熔丝阵列读取记录数据的第一部分，并用校正数据校正记录数据的第一部分以 产生输出数据。 本专利技术提供了一种校正方法，用于校正电子熔丝装置，所述校正方法包含提供输 入数据；根据输入数据用预定错误校正码，产生第一检查比特数据；根据输入数据、地址数 据及第一检查比特数据，产生多个熔断信号；根据多个熔断信号及地址数据，将输入数据及 第一检查比特数据记录在电子熔丝阵列之中；根据地址数据，从电子熔丝阵列读取记录数据；根据记录数据用预定错误校正码，产生第二检查比特数据；根据第二检查比特数据，产 生校正数据；以及用校正数据，校正记录数据的第一部分以产生输出数据，其中，记录数据 的第一部分对应于输入数据。本专利技术提供了一种操作电子熔丝装置的方法，所述方法包含接收输入数据；根 据输入数据用预定错误校正码，产生第一检查比特数据；将输入数据记录到电子熔丝装置 之中；以及将第一检查比特数据记录在非易失性存储器中。本专利技术提供的，用错误校 正码校正从电子熔丝阵列读取的数据，提高了电子熔丝阵列的成品率。附图说明图1是根据本专利技术实施方式的电子熔丝装置的示意图。图2是根据本专利技术实施方式在图1的电子熔丝装置中的程序设计单元的示意图。图3是图2中的熔断使能信号WPL1-WPLn的示意图。图4是图1的电子熔丝阵列及同位数据PD的布置的示意图。图5是根据本专利技术图1的电子熔丝装置中的校正器的实施方式的示意图。图6是根据本专利技术图1的电子熔丝装置中的校正器的另一实施方式的校正单元的 示意图。图7是根据本专利技术实施方式的电子熔丝装置的校正方法的流程图。具体实施方式 在说明书及权利要求书当中使用了某些词汇来指称特定的元件。所属
的 技术人员应可理解，硬件制造商可能会用不同的名词来称呼同一个元件。本说明书及权利 要求书并不以名称的差异作为区分元件的方式，而是以元件在功能上的差异作为区分的准 贝U。在说明书及权利要求书中所提及的“包含”为开放式的用语，因此，应解释成“包含但不 限定在”。此外，“耦接”一词在此包含任何直接及间接的电气连接手段。因此，如果文中描 述第一装置耦接于第二装置，那么代表第一装置可直接电气连接于第二装置，或通过其它 装置或连接手段间接地电气连接到第二装置。本专利技术提供一种电子熔丝装置。图1是根据本专利技术实施方式的电子熔丝装置1的 示意图。在图1中，电子熔丝装置1包含第一检查比特(check-bit)产生器10、程序设计单 元11、电子熔丝阵列12、第二检查比特产生器13、征状(syndrome)产生器14以及校正器 15。电子熔丝装置1接收输入数据DI并根据地址数据ADD将输入数据DI记录在电子熔丝 阵列12中。第一检查比特产生器10接收输入数据DI，并根据输入数据DI用预定错误校正 码产生第一检查比特数据CBl。在本实施方式中，汉明码(Hamming code)作为预定错误校 正码的范例给出。举例来说，具有8个比特的输入数据DI是“1100 0100”。第一检查比特 数据CBl的比特数是4 ( = log28+l)。输入数据DI与第一检查比特数据CBl结合以产生具 有 12 个比特的同位(parity)数据 PD( =“P1 P2 P3 P4P5 P6 P7 P8 P9 PlO Pll P12”)， 其中输入数据DI的比特“1100 0100”被分别安排在同位数据PD的比特P3、P5、P6、P7、P9、 P10、Pll及Ρ12的位置，而第一检查比特数据CBl的四个比特Cl、C2、C3及C4被分别安排 在同位数据PD的比特PI、Ρ2、Ρ4及Ρ8的位置。同位资料PD表示为PD = Pl P2 P3 P4 P5 P6 P7 P8 P9 PlO Pll P12= Cl C2 1 C3 1 0 0 C4 0 1 0 0,其中， Cl (Pl) :P3 P5 P7 P9 Pll = 1 1 0 0 0 = 0，C2(P2) :P3 P6 P7 PlO Pll = 1 0 0 1 0 = 0，C3(P4) :P5 P6 P7 P12 = 1 0 0 0 = 1，以及C4(P8) :P9 PlO Pll P12 = 0 1 0 0 = 1。因此，第一检查比特数据CBl的四个比特C1、C2、C3及C4分别是0、0、1与1。在第一检查比特产生器10产生第一检查比特数据CBl之后，程序设计单元11接 收输入数据DI与第一检查比特数据CBl。在程序设计单元11中，输入数据DI与第一检查 比特数据CBl用具有12个比特的同位数据PD( “0011 1001 0100”)表示。请参考图2，图2是根据本专利技术上述实施方式在图1的电子熔丝装置中的程序设计 单元11的示意图。程序设计单元11包含多个移位寄存器(shift register) ZO1IOn与多 个逻辑门21^2、。移位寄存器ZO1IOn串联耦接，且每一个移位寄存器由时钟信号CLK与 写入使能信号WE控制，写入使本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电子熔丝装置，用于根据地址数据记录输入数据，该电子熔丝装置包含：第一检查比特产生器，用于接收该输入数据，并根据该输入数据用预定错误校正码产生第一检查比特数据；程序设计单元，用于根据该输入数据与该第一检查比特数据产生多个熔断信号；以及电子熔丝阵列，用于接收该多个熔断信号与该地址数据，其中该输入数据与该第一检查比特数据是根据该多个熔断信号与该地址数据被记录在该电子熔丝阵列之中。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：黄睿夫，
申请(专利权)人：联发科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]