【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及条纹投影领域，尤其涉及。
技术介绍
基于条纹投影的相位测量技术可以实现物体三维形貌快速全场测量，该测量技术 在很多领域有很好的应用前景，比如机器视觉、生物医学、质量控制和求逆工程等方面。基 于条纹投影的相位测量系统中的投影条纹的特性直接影响到三维形貌测量系统的分辨率 与测量精度，并且决定这种测量系统的成本、体积及功率消耗。现有的用于三维形貌测量条纹投影的方法有采用基于LCD或者DMD数字投影仪 的投影系统，或者采用基于衍射光栅的投影系统，以及采用基于投射光栅的投影系统。采用基于LCD和DMD投影的数字投影系统可以方便投射各种样式的条纹并且可以 方便的实现移相，但是由于受LCD和DMD分辨率的限制，很难投射出比较细密的正弦条纹， 并且投影条纹相位分布不是联系的，从而使系统测量精度受到限制；另外，投影仪的功率一 般较高，发热量较大，对测量系统的稳定性影响较大。利用衍射光栅及投射光栅投射的条纹 对比度较差，并且光栅加工难度较大，另外需要精密的调相机构，系统结构昂贵复杂。
技术实现思路
针对现有技术中产生投影条纹的相位分辨率不高，对比度低的问题，本专利技术提供...
【技术保护点】
１．一种无衍射栅型结构光条纹投影系统，包括激光器和滤波准直器，其特征在于，还包括第一分光棱镜、三角棱镜、全反射棱镜组、第二分光棱镜，其中，所述第一分光棱镜，用于将经过所述滤波准直器空间滤波和准直后的光分成两束相干光，分别为第一光束和第二光束；所述三角棱镜，用于将所述第一光束折射后产生微小的偏折，得到第一光束ａ；所述全反射棱镜组，用于改变所述第二光束的光路，得到第二光束ｂ；所述第二分光棱镜，用于使所述第一光束ａ经其反射和第二光束ｂ经其折射，或使所述第一光束ａ经其折射和第二光束ｂ经其反射后产生干涉，形成空间无衍射栅型结构光条纹。
【技术特征摘要】
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