【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
１．一种光学同调断层检测装置，包含：光源，用以发出同调光；光耦合模块，用以将所述同调光分成第一入射光及第二入射光，所述第一入射光射向一待测物而产生第一反射光；以及光程差产生模块，包含至少一个光学元件，所述第二入射光射向所述光程差产生模块，所述光程差产生模块通过改变所述至少一个光学元件的透光／反射性质的方式根据所述第二入射光产生第二反射光，致使所述第二反射光与所述第一反射光之间具有光程差。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：周忠诚，王威，
申请(专利权)人：瑞鼎科技股份有限公司，明达医学科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]
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