用于测试存储器的方法与装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种测试存储器的方法，所述方法包括起始对计算机可读存储器的测试。所述计算机可读存储器提供与所述测试相关联的输出数据。另外，所述方法包括选择接收来自第一寄存器或第二寄存器的所述输出数据。在特定实施例中，所述方法可包括通过使用控制线来选择接收来自所述第一寄存器或所述第二寄存器的所述输出数据。在另一特定实施例中，所述方法可包括通过使用控制线来选择接收来自所述第一寄存器或所述第二寄存器的ＲＡＭ输入数据。所述控制线由硬件或软件在逐循环基础上动态地配置。在特定实施例中，所述测试为内装自测试（ＢＩＳＴ）。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术大体上涉及设计及测试存储器装置，且更明确地说，涉及一种用于测试存储 器的方法与装置。
技术介绍
一种存储器装置(例如随机存取存储器(RAM))可具有包括多个存储元件的多个 阵列。阵列可具有允许在可寻址存储元件中存储二进制数据的字线及位线。错误(例如， 位线之间的短路)可在制造RAM期间或在使用RAM期间发生。内装自测试(BIST) 可用于检测所述错误。然而，在以BIST模式操作的一些处理器架构中，读取操作及写入操作可导致数据 冲突，例如当BIST读取操作及BIST写入操作试图存取同一寄存器时。因此，提供一种用于测试存储器的改进方法及装置是有利的。
技术实现思路
在特定实施例中，提供一种装置，所述装置包括计算机可读存储器，所述计算机可 读存储器具有第一输入及第一输出。所述装置还包括用于存储数据的第一寄存器，所述第一寄存器具有第二输入及第二输出。所述第一寄存器的所述第二输出耦合到所述计算 机可读存储器的所述第一输入。另外，所述装置包括用于存储数据的第二寄存器，所述 第二寄存器具有第三输入及第三输出。所述第三输入耦合到所述计算机可读存储器的所 述第一输出。另外，所述装置包括逻辑，所本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种装置，其包含：　计算机可读存储器，其具有第一输入及第一输出；　第一寄存器，其用于存储数据，所述第一寄存器具有第二输入及第二输出，所述第二输出耦合到所述计算机可读存储器的所述第一输入；　第二寄存器，其用于存储数据，所述第 二寄存器具有第三输入及第三输出，所述第三输入耦合到所述计算机可读存储器的所述第一输出；以及　逻辑，其响应于所述第一寄存器的所述第二输出及所述第二寄存器的所述第三输出，以在对所述第一寄存器的所述第二输出与所述第二寄存器的所述第三输出的选 择之间动态地切换。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：沈剑，保罗巴西特，
申请(专利权)人：高通股份有限公司，
类型：发明
国别省市：US[美国]