基准标记布置制造技术

技术编号:5483803 阅读:183 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种确定两个或多个基准标记(3)的预期位置(5)的方法,其包括以下步骤:就工作物(2),自原点限定具有一定半径的路径(4),所述半径相对于自原点的所述路径的角位移以非重复性方式改变;以及选择各基准标记的两个或多个预期位置,使得所述预期位置相对于所述工作物基本上定位于沿所限定的路径的点。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

【技术保护点】
一种确定两个或多个基准标记的预期位置的方法,其包括以下步骤: 就工作物,自原点限定具有一定半径的路径,所述半径相对于自原点的所述路径的角位移以非重复性方式改变;以及 选择各基准标记的两个或多个预期位置,使得所述预期位置相对于所述 工作物基本上定位于沿所限定的路径的点。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员:安东尼圣约翰
申请(专利权)人:普罗苏吉科斯有限公司
类型:发明
国别省市:GB[英国]

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