偏振超光谱成像仪制造技术

公开了一种超光谱传感器或成像仪，包括：激光器，用于照射场景；以及探测器，用于检测由激光器发射并且透射穿过所述场景的光，其中所述激光器是啁啾激光器，配置用于输出具有不同波长范围的多个脉冲，所述多个脉冲用于形成照射所述场景的扩展连续光谱。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种光谱偏振超光谱成像仪。具体地，本专利技术涉及一种使用量子级联 激光器的超光谱成像仪。
技术介绍
超光谱成像是一种在多个分立的相邻光谱带上的场景成像。存在两种基本类型 的超光谱成像仪如图1(a)所示，按照固定波长测量图像片段的波长扫描系统，以及如图 1(b)所示，通过旋转衍射光学元件的光谱扫描、或者通过将线的位置移动通过狭缝空间扫 描，来测量固定位置处的光谱片段的狭缝或线扫描系统。这种成像仪所要求的数据设置通 常称为数据方块，其中由作为空间信息的场景区域的图像给出第一个二维，并且由所述光 谱信息给出第三维。超光谱传感器执行成像光谱测定以获得光谱特征。当在超光谱传感器和正在观察 的场景之间存在气体云时，所述云在特定波长处吸收/发射与所述场景反射或自然发射截 然不同的光。通过对所述场景成像的同时按照波长扫描、并且然后将具有和不具有气体的 光谱信息进行比较(即，执行对比分析)，可以获得所述气体的吸收/发射特征，并且将所述 气体的吸收/发射特性用于识别所述气体内的化合物。因此，这些传感器可以预先提醒人 眼不可检测的有害化学蒸汽，并且可以监测气体中的物质浓度。例如，在电厂部门本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种超光谱传感器或成像仪，包括：激光器，用于照射场景；以及探测器，用于探测由激光器发射的、并且透射穿过所述场景的光，其中所述激光器是啁啾激光器，配置用于输出具有不同波长范围的多个脉冲，所述多个脉冲用于形成照射所述场景的扩展连续光谱。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】GB 2007-9-14 0717967.4一种超光谱传感器或成像仪，包括激光器，用于照射场景；以及探测器，用于探测由激光器发射的、并且透射穿过所述场景的光，其中所述激光器是啁啾激光器，配置用于输出具有不同波长范围的多个脉冲，所述多个脉冲用于形成照射所述场景的扩展连续光谱。2.根据权利要求1所述的超光谱传感器或成像仪，其中组合以形成照射所述场景的扩 展连续光谱的所述多个脉冲具有从1 μ m至20 μ m、优选地从7 μ m至14 μ m范围的波长。3.根据权利要求1或2所述的超光谱传感器或成像仪，包括偏振敏感滤波器，适用于允 许来自所述激光器的光通过、但是实质上阻断背景辐射。4.根据任一前述权利要求所述的超光谱传感器或成像仪，其中所述探测器是偏振敏感 的，并且适用于允许来自所述激光器的光通过、但是实质上阻断背景辐射。5.根据任一前述权利要求所述的超光谱传感器或成像仪，其中所述探测器是二维焦平 面探测器。6.根据任一前述权利要求所述的超光谱传感器或成像仪，其中所述探测器是QWIP。7.根据任一前述权利要求所述的超光谱传感器或成像仪，其中所述探测器是以下之 一 =MCT探测器、硒化物基探测器、超晶格II型探测器。8.根据任一前述权利要求所述的超光谱传感器或成像仪，其中所述探测器操作用于只 探测由所述啁啾激光器产生的偏振光。9.根据任一前述权利要求所述的超光谱传感器或成像仪，其中所述激光器是半导体激 光器。10.根据任一前述权利要求所述的超光谱传感器或成像仪，其中所述激光器是量子级 联激光器。11.根据权利要求9或10所述的超光谱传感器或成像仪，包括用于向激光器施加脉冲 的装置，所述脉冲具有大于50ns、优选地大于IOOns的持续时间。12.根据权利要求11所述的超光谱传感器或成像仪，其中每个所施加的脉冲具有在50...

【专利技术属性】
技术研发人员：埃尔文诺曼德，
申请(专利权)人：卡斯卡德技术有限公司，
类型：发明
国别省市：GB[英国]