【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及用于校准辐射检测装置的辐射源，更详而言之，涉及 含镥检查源、它们的制造以及它们的使用。
技术介绍
美国国土安全部的要求包括对能够灵敏检测从隐藏辐射性材料发出的伽马辐射的装置的需求(例如，根据美国国家标准机构(ANSI) 的标准，如ANSIN42.32)。很多钢厂和废料场也关注被称为孤立源 (orphane source)的潜在危险熔化，孤立源可能被包含在废料内或由 其向外输出。甚至垃圾和废物焚烧场在它们的门和人员身上配备用于 检测这种辐射能的监控器。可以配置商业可买到的高敏便携式或移动 式伽马辐射仪，用于检测非常小量的辐射能。一些传统的辐射检测仪器只通过装置显示感应到所检测的伽马射 线的数量(即计数)，而其他传统辐射检测装置能够测量和显示由装 置检测的伽马辐射场的辐射剂量。根据使用的装置，这种装置的操作 者可以设置单位时间单元所检测的粒子的绝对数量或所测量的辐射剂 量的警告阈值。 一些辐射检测系统被构造用于当伽马辐射的各自计数 或辐射剂量超过与背景水平有关的阈值时产生警告。在实际使用之前且优选地在它们的使用寿命期间定期的基础上， 典型地应该根据已知...
【技术保护点】
一种辐射校准源，用于校准辐射检测装置，所述辐射校准源包括含天然存在的镥的化合物，所述天然存在的镥包括同位素Ｌｕ－１７６。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】US 2006-8-28 11/511,0781. 一种辐射校准源，用于校准辐射检测装置，所述辐射校准源包括含天然存在的镥的化合物，所述天然存在的镥包括同位素Lu-176。2. 根据权利要求1所述的辐射校准源，其中所述镥化合物是下列 中的至少一个i) 氧化镥，ii) 碳酸镥，和m)氯化镥。3. 根据权利要求2所述的辐射校准源，其中所述源的体积位于2 和50立方厘米之间。4. 根据权利要求1所述的辐射校准源，进一步包括低Z材料的外 壳，该外壳包围所述镥化合物的至少一部分。5. 根据权利要求1所述的辐射校准源，包括环，该环包含所述镥 化合物。6. 根据权利要求1所述的辐射校准源，包括杆，该杆包含所述镥 化合物。7. 根据权利要求6所述的辐射校准源，包括间隔开的包含所述镥 化合物的杆的阵列。8. 根据权利要求1所述的辐射校准源，包括盘，该盘包含所述镥 化合物。9. 一种辐射检测装置，包括辐射检测器，该辐射检测器用于将接收的伽马辐射转换为光子能；和辐射校准源，该辐射校准源包括具有同位素Lu-176的天然存在的 镥，所述源附置在所述辐射检测器的表面或置于其附近，并且可操作以 基于从所述辐射校准源发出的伽马辐射校准所述辐射检测装置。10.根据权利要求9所述的辐射检测装置，其中所述辐射校准源单 位表面积的重量小于阈值，以限制被所述辐射校准源吸收的伽马辐射11. 根据权利要求10所述的辐射检测装置，其中所述源包括镥化 合物；和所述阈值是每平方厘米所述辐射校准源的表面积所述镥化合物大 约为5g。12. 根据权利要求9所述的辐射检测装置，其中所述辐射检测器是 具有20和IOOO平方厘米之间的辐射检测表面积的贝它辐射表面污染检 测器；和其中所述辐射校准源覆盖辐射检测表面的至少一部分，该辐射检测 表面具有小于每平方厘米50mg镥化合物的单位表面积重量。13. 根据权利要求9所述的辐射检测装置，其中所述辐射检测器是 闪烁器，用于从辐射校准源接收伽马辐射并将所接收的伽马辐射转换为 光子能，所述辐射检测装置进一步包括光电检测器装置，用于检测由闪烁器产生的光子能； 放大器，用于放大由所述光电检测器响应于检测所述光子能而产生 的各个信号；和调节电路，用于将所述辐射检测装置校准到从大约90、 200和300 千电子伏的镥化合物发出的伽马能中的至少一个。14. 一种方法，包括 利用辐射检测器装置检测辐射能；和通过将所述辐射装置暴露于含有包括同位素Lu-176的天然存在的 镥的化合物，来校验所述辐射检测器的性能。15. 根据权利要求14所述的方法，其中校准所述辐射检测器装置 包括检测由所述镥化合物产生的伽马辐射的水平。16. 根据权利要求14所述的方法，其中校准所述辐射检测器装置 包括临时地将所述镥化合物定位在所述辐射检测器装置附近，以检测由 所述镥化合物的同位素Lu-176所产...
【专利技术属性】
技术研发人员：迈克尔艾瓦特斯臣科博霍，
申请(专利权)人：热费希尔科学公司，
类型：发明
国别省市：US[美国]
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。