颗粒检测仪制造技术

本发明专利技术涉及一种颗粒检测仪，包括壳体、连接到壳体的通风装置以及至少部分地设置在壳体内的气道。所述通风装置可用于产生经过所述气道的气流。所述颗粒检测仪还包括至少部分地位于所述壳体内并且与所述气道流体连通的实时测量装置以及至少部分地位于所述壳体内并且与所述气道流体连通的颗粒收集装置。所述颗粒收集装置位于所述实时测量装置的下游。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及颗粒检测仪，更具体地讲，涉及室内空气质量检测仪。
技术介绍
某些常规的室内空气质量(IAQ)检测仪通常包括壳体、壳体中的过滤器盒或滤 筒、用于将气流抽过滤筒的泵、以及设置在滤筒壳体上游气道入口旁边的单冲击器。冲击器 通常被构造用于捕集或过滤特定标称粒度或更大(如IO微米或更大)的颗粒，以基本防止 此类颗粒进入气道，并且将颗粒收集在滤筒中。该单冲击器通常可以从壳体上拆除并替换 为另一个不同尺寸的单冲击器，以捕集或过滤不同粒度的颗粒。其他常规的IAQ检测仪包 括实时测量系统(如光学引擎)而不是滤筒，以便即刻显示室内空气质量测试的结果。
技术实现思路
通过更换常规IAQ检测仪中的各个单冲击器，可以收集包含不同标称粒度范围的 颗粒样品(如标称粒度为10微米或更小的颗粒样品，标称粒度为2. 5微米或更小的颗粒样 品等等)。利用此信息可以分辨出可能由特别高浓度的特定标称粒度范围内的颗粒所引起 的具体健康问题。然而，常规的IAQ检测仪收集样品前要更换各个单冲击器，耗时又费力。 在一个方面，本专利技术提供颗粒检测仪，该检测仪包括壳体、连接到壳体的通风装置 以及至少部分地设置在壳体内的气道。所述通风装置可用于产生经过气道的气流。该颗粒 检测仪还包括至少部分地位于壳体内并且与气道流体连通的实时测量装置以及至少部分 地位于壳体内并且与气道流体连通的颗粒收集装置。该收集装置位于实时测量装置的下 游。 在另一方面，本专利技术提供颗粒检测仪，该检测仪包括壳体、连接到壳体的通风装置 以及至少部分地设置在壳体内的第一气道。所述通风装置可用于产生经过第一气道的气 流。该颗粒检测仪还包括连接到壳体的第一冲击器以及其中至少部分包括第一冲击器的第 二气道。该第二气道选择性地与第一气道进行流体连通。该颗粒检测仪还包括连接到壳体 的第二冲击器以及其中至少部分包括第二冲击器的第三气道。第三气道与第二气道隔开， 并且选择性地与第一气道流体连通。 在另一方面，本专利技术提供颗粒检测仪，该检测仪包括壳体、连接到壳体的通风装置 以及至少部分地设置在壳体内的气道。所述通风装置可用于产生经过气道的气流。该颗粒 检测仪还包括可拆卸地连接到壳体的至少一个冲击器，以便能够在与气道的入口相邻的第 一位置与偏离气道的入口的第二位置之间移动。 通过结合下列详细说明以及附图，本专利技术的其他特征和方面将变得显而易见。 附图说明 图1是本专利技术的颗粒检测仪的前透视图。 图2是图1的颗粒检测仪的后部透视图。 图3是图1的颗粒检测仪的部分放大分解顶部透视图，示出可旋转的转动架、连接到转动架的多个冲击器、以及连接到转动架至少部分盖住这些冲击器的顶盖。 图4a是图3中所示的转动架和顶盖的放大分解顶部透视图。 图4b是图3中所示的转动架的放大分解顶部透视图以及顶盖的底部透视图，示出顶盖的内部。 图5是图1的颗粒检测仪的背面部分剖面图，示出转到第一位置的顶盖和转动架。 图6是图1的颗粒检测仪的背面部分剖面图，示出转到第二位置的顶盖和转动架。 图7是图1的颗粒检测仪的背面部分剖面图，示出转到第三位置的顶盖和转动架。 图8是图1的颗粒检测仪的背面部分剖面图，示出转到第四位置的顶盖和转动架。 图9是图1的颗粒检测仪沿图1中的线9-9断开的部分剖视图。 在详细解释本专利技术的任何实施例之前，应当理解本专利技术在其应用中并不限于在下 文描述中提及的或下列附图中所示的结构细节和部件布置。本专利技术能够具有其他实施例并 能够以各种方式实践或实施。另外，应当理解本文使用的措词和术语是作为说明之用，不应 当成限制。包括、包含或具有及其变型在本文中使用旨在涵盖其后列出的各项及其 对等物，以及其他各项。除非另外指出或限制，否则术语安装的、连接的、支撑的、以 及耦合的及其变型可以广义地使用，并且涵盖直接和间接的安装、连接、支撑和耦合。此 外，连接的和耦合的不限于物理或机械连接或耦合。具体实施例方式图1和2示出了颗粒检测仪或IAQ检测仪10，该检测仪用于收集特定工作空间或 环境中空气中的颗粒的数量和粒度数据，以确定室内空气的质量。检测仪10包括壳体14、 在壳体14前面的显示屏18、以及在壳体14前面显示屏18下方的多用户操作的控件22 (参 照图1)。参照图2，检测仪IO还包括与壳体14可拆卸地连接的检修面板26，用于进入壳体 14的内部。在检测仪10的图示构造中，检修面板26包括可弹性变形的连接器(如弹性凸 块，未示出)，以便将对应的平面或边缘接合到壳体14上。或者该检修面板26可通过常规 的扣件、铰链或类似物固定到壳体14上。检测仪10另外包括多个橡胶或塑料塞30，每个橡 胶或塑料塞被构造用于防止触及设置在塞30后面的电连接器(如电源插座、数据传输出口 等)。 参照图l，检测仪10另外包括连接到壳体14的盖板34，以及从盖板34突出的可 旋转冲击器组件38。检测器10包括壳体14内的气道42，其入口 44位于可旋转冲击器组 件38下方的盖板34的底部(参照图5)。参照图5，检测器10包括实时测量装置46，其形 式是与气道42流体连通的光学引擎46。正如准备在以下更详细地讨论的，该光学引擎46 发射穿过气道42的激光，以收集经过气道42的气流中所夹带的颗粒物的数量和粒度数据。 此类光学弓l擎46由Quest Technologies公司(0co謹owoc， WI)制造。 继续参照图5，检测仪10还包括位于测量装置46下游的颗粒收集装置50，该装 置与气道42流体连通。在检测仪10的图示构造中，该颗粒收集装置50的形式是圆柱形 重量分析滤筒50，其中设置有过滤元件54。正如准备在以下更详细地讨论的，经过光学引 擎46的测量之后，颗粒物被收集到过滤元件54上，以便在实验室中进行后续分析。因此该 滤筒50能够通过检修面板26拆卸下来。此类滤筒50由SKC公司(Eighty Four, PA)或Millipore公司(Billerica，MA)制造，而且具有多种不同的标准粒度(如25mm、37mm等)。 此外，在检测仪10的另一种构造中，滤筒50可以至少部分地设置在壳体14的外面，以便于 将滤筒50从壳体14上拆下。在检测仪10的图示构造中，以及在上述另一种构造中，滤筒 50的任何部分都没有设置在测量装置46的上游。 继续参照图5，气道42由壳体14中的多个部件所限定。在检测仪10的图示构造 中，气道42局部被光学引擎46的内部空间58所限定，而夹带的颗粒物随气流经过该内部 空间，并且入口导管62和出口导管66分别从光学引擎46的上表面和光学引擎46的下表 面伸出。气道42还部分地受到与盖板34 —体形成的导管70、与导管70连接的另一根导管 74(如塑料管或软管)、以及光学引擎46上的入口导管62的限定。在检测仪10的图示构 造中，气道42的入口 44与导管70的入口重合。 气道42还部分地受到滤筒50的内部空间78以及从滤筒50的上表面和滤筒50的 下表面分别伸出的入口导管82和出口导管86所限定。在检测仪10的图示构造中，调整滤 筒50上的入口导管82的大小，以便至少部分地在其中容纳光学引擎46上的出口导管66。 具体地讲，调整入口导管82的内径和出口导管66的外径，以便使光学引擎46的出口导管 6本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种颗粒检测仪，所述颗粒检测仪包括：壳体；通风装置，所述通风装置连接到所述壳体；气道，所述气道至少部分地设置在所述壳体内，所述通风装置能用于产生经过所述气道的气流；实时测量装置，所述实时测量装置至少部分地设置在所述壳体内并且与所述气道流体连通；以及颗粒收集装置，所述颗粒收集装置至少部分地设置在所述壳体内并且与所述气道流体连通，所述颗粒收集装置设置在所述实时测量装置的下游。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】US 2007-8-28 11/846,131一种颗粒检测仪，所述颗粒检测仪包括壳体；通风装置，所述通风装置连接到所述壳体；气道，所述气道至少部分地设置在所述壳体内，所述通风装置能用于产生经过所述气道的气流；实时测量装置，所述实时测量装置至少部分地设置在所述壳体内并且与所述气道流体连通；以及颗粒收集装置，所述颗粒收集装置至少部分地设置在所述壳体内并且与所述气道流体连通，所述颗粒收集装置设置在所述实时测量装置的下游。2. 根据权利要求1所述的颗粒检测仪，其中所述气道是第一气道，并且所述颗粒检测 仪还包括第一冲击器，所述第一冲击器连接到所述壳体；以及第二气道，在所述第二气道中至少部分地包括所述第一冲击器，所述第二气道选择性 地与所述第一气道流体连通。3. 根据权利要求2所述的颗粒检测仪，还包括 第二冲击器，所述第二冲击器连接到所述壳体；以及第三气道，在所述第三气道中至少部分地包括所述第二冲击器，所述第三气道与所述 第二气道隔离并且选择性地与所述第一气道流体连通。4. 根据权利要求3所述的颗粒检测仪，还包括 第三冲击器，所述第三冲击器连接到所述壳体；以及第四气道，在所述第四气道中至少部分地包括所述第三冲击器，所述第四气道与所述 第二气道和所述第三气道隔离，并且选择性地与所述第一气道流体连通。5. 根据权利要求2所述的颗粒检测仪，还包括第三气道，所述第三气道与所述第二气 道隔离并且选择性地与所述第一气道流体连通。6. 根据权利要求2所述的颗粒检测仪，其中所述第一冲击器可拆卸地连接到所述壳 体，以便能够在与所述第一气道的入口相邻的第一位置和偏离所述第一气道的入口的第二 位置之间移动。7. 根据权利要求6所述的颗粒检测仪，其中所述第一冲击器不需要使用工具即可在所 述第一位置和所述第二位置之间移动。8. 根据权利要求6所述的颗粒检测仪，还包括可拆卸地连接到所述壳体的平台，其中 所述第一冲击器被支撑在所述平台上。9. 根据权利要求8所述的颗粒检测仪，其中所述平台包括选择性地与所述第一气道和 所述第二气道流体连通的孔。10. 根据权利要求8所述的颗粒检测仪，其中所述平台至少部分地限定与所述壳体旋 转连接的转动架。11. 根据权利要求8所述的颗粒检测仪，还包括连接到所述平台的顶盖，以便至少部分 地覆盖所述第一冲击器，其中所述第二气道至少部分地由所述顶盖所限定。12. 根据权利要求11所述的颗粒检测仪，其中所述顶盖包括与所述第一冲击器基本上 对准的孔，并且气流能够通过所述孔进入所述第二气道。13. 根据权利要求8所述的颗粒检测仪，其中所述平台能够从所述壳体拆下。14. 根据权利要求1所述的颗粒检测仪，其中所述通风装置是第一通风装置，所述实时 测量装置是第一实时测量装置，并且所述颗粒检测仪还包括第二通风装置，所述第二通风装置连接到所述壳体；第二气道，所述第二气道至少部分地设置在所述壳体内，所述第二通风装置可用于产 生经过所述第二气道的气流；以及第二实时测量装置，所述第二实时测量装置至少部分地设置在所述第二气道内。15. 根据权利要求14所述的颗粒检测仪，其中所述第二实时测量装置包括二氧化碳传 感器、一氧化碳传感器以及光致电离检测器中的至少一者。16. 根据权利要求14所述的颗粒检测仪，其中所述第二通风装置包括风机。17. 根据权利要求1所述的颗粒检测仪，其中所述通风装置包括泵。18. 根据权利要求1所述的颗粒检测仪，其中所述实时测量装置包括光学引擎。19. 根据权利要求1所述的颗粒检测仪，其中所述颗粒收集装置包括具有过滤元件的 滤筒。20. —种颗粒检测仪，所述颗粒检测仪包括 壳体；通风装置，所述通风装置连接到所述壳体；第一气道，所述第一气道至少部分地设置在所述壳体内，所述通风装置可用于产生经 过所述第一气道的气流；第一冲击器，所述第一冲击器连接到所述壳体；第二气道，在所述第二气道中至少部分地包括所述第一冲击器，所述第二气道选择性 地与所述第一气道流体连通；第二冲击器，所述第二冲击器连接到所述壳体；以及第三气道，在所述第三气道中至少部分地包括所述第二冲击器，所述第三气道与所述 第二气道隔离，并且选择性地与所述第一气道流体连通。21. 根据权利要求20所述的颗粒检测仪，还包括 第三冲击器，所述第三冲击器连接到所述壳体；以及第四气道，在所述第四气道中至少部分地包括所述第三冲击器，所述第四气道与所述 第二气道和所述第三气道隔离，并且选择性地与所述第一气道流体连通。22. 根据权利要求20所述的颗粒检测仪，还包括与所述第二气道和所述第三气道隔离 的第四气道，其中所述第四气道选择性地与所述第一气道流体连通。23. 根据权利要求20所述的颗粒检测仪，其中所述第一冲击器和所述第二冲击器的每 一个都可拆卸地连接到所述壳体，以便能够在与所述第一气道的入口相邻的第一位置和偏 离所述第一气道的入口的第二位置之间移动。24. 根据权利要求23所述的颗粒检测仪，其中所述第一冲击器和所述第二冲击器的每 一个都不需要使用工具即可在所述第一位...

【专利技术属性】
技术研发人员：帕特里克J基尔普斯，麦克G武尔姆，托马斯E金，保罗E詹姆斯，史蒂文E米哈尔斯基，
申请(专利权)人：奎斯特技术公司，
类型：发明
国别省市：US[美国]