一种高品质铜版纸的涂布量测量与控制工艺制造技术

本发明专利技术公开了一种高品质铜版纸的涂布量测量与控制工艺，包括测量及涂布，其特征在于还包括如下步骤：关闭３号扫描架的涂布量传感器，调整２号扫描架中两个涂布量传感器的测量方式，关闭穿透补偿方式、关闭原纸补偿方式、开启成分补偿方式，根据要生产的纸种类型设定相应的固定补偿数值，进行涂布作业。本发明专利技术使用独立测量的方式，减少因原测量方式中考虑涂布原纸中ＣＬＡＹ与ＬＡＴＥＸ元素的情况，导致测量值的不稳定性，同时也解决了因实际涂布的厚薄多少造成的红外线涂布量传感器在测量时，穿透情况不一定而造成的补偿波动与不稳定性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术专利涉及涂布量测量与控制工艺，尤其涉及品牌为ABB公司的红外线反射型涂 布量传感器的使用。
技术介绍
现有的多层涂布量测量中，在使用红外线反射型涂布量传感器时，原纸中的CLAY (瓷土)与LATEX (胶乳)元素对其每一层涂布量的测量都会有很大的影响。我司在实际涂布量测量时，在原纸测量扫描架中加测其中的CLAY与LATEX的含 量，使用的是ABB公司的红外线反射型涂布量传感器，然后在其后的测量中用此测量值进 行一个动态的补偿，以求能准确的进行多层涂布。但在实际使用中，因原纸中CLAY与LATEX 的含量太低且不稳定，测量值波动较大，在进行正反各两层涂布测量时，无论涂布系统是否 稳定，供料是否正常，都无法保证单层涂布总量的稳定，且每一层的涂布量在CD (横向)方 向上也无法保证均勻涂布，作为涂布纸中最重要的一项指标(涂布量的稳定性)，如此的不 稳定与不确定性，很难保证纸品的A级率，无法达到纸厂的生产要求以及终端市场的认可， 同时更换红外线反射型涂布量传感器也是不现实的，因为会导致成本的大幅提高。在原有测量时，是通过安装在3号扫描架中的涂布量传感器对原纸进行全透式的 测量，建立一个CD方向的测量数据组，根据以上的数据在测量纸正面预涂层与纸反面预涂 层时，对其测量的数据进行补偿，以期能准确的测量纸正面预涂层与纸反面预涂层，但由于 原纸中CLAY与LATEX元素的含量很少，测量值的不稳定性高，造成C21与C22的测量中有 一定的不稳定性，也因此影响到以后的二次涂布，同时因原纸已经过压光等控制过CD向的 厚度控制，任何的多涂与少涂都会造成成品纸厚度上的差异。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是在不改变现有设备的前提下，提供一种能够提高涂布 量的测量稳定性，保证涂布纸质量的涂布量测量与控制工艺。为解决上述技术问题，本专利技术提供了如下技术方案一种高品质铜版纸的涂布量 测量与控制工艺，包括测量及涂布，其还包括如下步骤关闭3号扫描架的涂布量传感器， 调整2号扫描架中两个涂布量传感器的测量方式，关闭穿透补偿方式、关闭原纸补偿方式、 开启成分补偿方式，根据要生产的纸种类型设定相应的固定补偿数值，进行涂布作业。作为本专利技术所述的高品质铜版纸的涂布量测量与控制工艺的一种优选方案，其中 所述要生产的纸种类型的固定补偿数值是通过如下方法测定的选择纸种进行单点测量， 取样，采用的是焚烧烘烤的方式测量，准确测量到涂布后纸品中CLAY与LATEX的总含量，重 复三次以上，取平均值。作为本专利技术所述的高品质铜版纸的涂布量测量与控制工艺的一种优选方案，其中 将平均值设定为固定补偿数值，再经过实际使用，微调其补偿值，达到准确测量。本专利技术所述工艺，在测量方面对纸正面预涂层与纸反面预涂层使用独立测量的方CN 102069059 A说明书2/3页 式，减少因原测量方式中考虑涂布原纸中CLAY与LATEX元素的情况，导致测量值的不稳定 性，同时也解决了因实际涂布的厚薄多少造成的红外线涂布量传感器在测量时，穿透情况 不一定而造成的补偿波动与不稳定性。在补偿方面，通过在实验室测定，建立不同的纸种类 型固定的成分补偿值。本专利采用上述技术措施后，可以提高传感器的测量精度，改善整体 的涂布量的稳定性。附图说明图1为本专利技术所述纸张测量扫描架的结构示意图。 具体实施例方式下面结合附图，具体说明本专利技术所述工艺。如图，其中1为3号扫描架，即FRAME3 ； 2为原纸红外线涂布量传感器，即C31 ；3为上纸面预涂涂布头，即ft~e-T0p Coat ；4为2号 扫描架，即FRAME2 ；5为上纸预涂红外线涂布量传感器，即C21 ；6为上纸面涂布头，即Top Coat ；7为1号扫描架，即FRAMEl ；8为上纸涂布红外线涂布量传感器，即Cll ；9为下纸面预 涂涂布头，即Pre-Botton Coat ； 10为下纸预涂红外线涂布量传感器，即C22 ； 11为下纸面涂 布头，即Botton Coat ；12为下纸涂布红外线涂布量传感器，即C12。首先需要改变涂布量传感器的测量方式，一般分为三种测量方式，分别为成分补 偿，穿透补偿与原纸补偿测量方式。本专利技术所述工艺中，首先要关闭3号扫描架的涂布量传 感器，不再使用它作为系统的动态补偿测量，其次修改2号扫描架的测量参数，改变2号扫 描架中两个涂布量传感器的测量方式，关闭穿透补偿，关闭原纸补偿，选择成分补偿测量方 式，经过以上的设置，涂布量传感器就可以进行独立的测量，不会收到原纸成分的干扰了， 为以后的准确测量涂布量建立好了基础。但因为在涂布量的测量中人为的取消了动态补偿，实际会对测量产生一定影响， 此时就要进行人为的固定补偿。首先要确定本机台要生产的纸种的类型，对每一纸种做一 个独立的纸种号，然后将使用的涂布头的测量号填写到纸种号中，以便测量时的调用。建立好以上纸种，然后调用某一纸种，测量所对应的这种纸种，进行单点测量，取 样，在实验室中进行测量，采用的是焚烧烘烤的方式测量，可以准确的测量到涂布后纸品中 CLAY与LATEX的总含量，重复三次以上，取平均值。将平均值作为该纸种的固定补偿数值， 再经过实际使用，微调其补偿值，达到准确测量。实施例一我司在生产216g的铜版纸(双铜)时，先在系统中建立一个纸种号 401216，然后针对其中的使用的C21也建立一个独立传感器参数号15，将其填入到纸种号 以便调用，接着进行生产(只进行单面的预涂)，做单点测量，记录下单点的数据，并进行取 样，如是三次，送品保测量，这样就可以保证数据的真实性，数据如下表一取样1实验室数据QCS数据原纸1.23g涂布后纸15. 42g15. 23g表二取样2实验室数据QCS数据原纸1. 18g权利要求1.一种高品质铜版纸的涂布量测量与控制工艺，包括测量及涂布，其特征在于还包括 如下步骤关闭3号扫描架的涂布量传感器，调整2号扫描架中两个涂布量传感器的测量方 式，关闭穿透补偿方式、关闭原纸补偿方式、开启成分补偿方式，根据要生产的纸种类型设 定相应的固定补偿数值，进行涂布作业。2.根据权利要求1所述的高品质铜版纸的涂布量测量与控制工艺，其特征在于所述要 生产的纸种类型的固定补偿数值是通过如下方法测定的选择纸种进行单点测量，取样，采 用的是焚烧烘烤的方式测量，准确测量到涂布后纸品中CLAY与LATEX的总含量，重复三次 以上，取平均值。3.根据权利要求2所述的高品质铜版纸的涂布量测量与控制工艺，其特征在于将平 均值设定为固定补偿数值，再经过实际使用，微调其补偿值，达到准确测量。全文摘要本专利技术公开了一种高品质铜版纸的涂布量测量与控制工艺，包括测量及涂布，其特征在于还包括如下步骤关闭3号扫描架的涂布量传感器，调整2号扫描架中两个涂布量传感器的测量方式，关闭穿透补偿方式、关闭原纸补偿方式、开启成分补偿方式，根据要生产的纸种类型设定相应的固定补偿数值，进行涂布作业。本专利技术使用独立测量的方式，减少因原测量方式中考虑涂布原纸中CLAY与LATEX元素的情况，导致测量值的不稳定性，同时也解决了因实际涂布的厚薄多少造成的红外线涂布量传感器在测量时，穿透情况不一定而造成的补偿波动与不稳定性。文档编号B05C11/02GK102069059SQ20101057901本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种高品质铜版纸的涂布量测量与控制工艺，包括测量及涂布，其特征在于还包括如下步骤：关闭３号扫描架的涂布量传感器，调整２号扫描架中两个涂布量传感器的测量方式，关闭穿透补偿方式、关闭原纸补偿方式、开启成分补偿方式，根据要生产的纸种类型设定相应的固定补偿数值，进行涂布作业。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：高洋，王晓峰，
申请(专利权)人：金华盛纸业苏州工业园区有限公司，
类型：发明
国别省市：32[]