插座及具有该插座的老化测试板制造技术

本发明专利技术提供一种能够使老化测试板轻量化且容易进行中继基板的更换作业的插座。在老化测试板（１００）的一个区域中的另一面通过螺钉（８１）、（８１）固定加强板（６０），在一面固定构成插座主体的台架（２０）。此时，使用螺钉（８２）相对于形成在加强板（６０）的螺纹孔（６１）进行固定。由于不需要由与老化测试板（１００）的整个面相同面积构成的大型的加强板，因此，能够使这样的搭载有多个插座（１０）的老化测试板整体的重量轻量化，从而易于进行更换作业。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及老化检查用的插座及老化测试板，特别涉及能够实现轻量化和维护作业的容易化的插座及具有该插座的老化测试板。
技术介绍
在半导体集成电路(电子部件)的制造工序中，为了使电子部件的初期不良显现， 并去除初期故障件，进行作为筛选试验的一种的老化测试(burn-In)试验。老化测试试验 通过将安装有多个电子部件的老化测试板收容在老化室内，施加规定的电压而赋予电应力 来进行。同时，通过对老化室内的空气进行加热，在高温度下施加规定的热应力，从而使不 良的电子部件显现出来。 用于进行老化检查的检查装置(老化测试室)收容有用于保持多个电子部件的老 化测试板。通常在老化测试板上配置用于安装电子部件的多个插座。安装在插座内的电子 部件经由插座内的端子或形成在老化测试板上的电极及配线图案等，与设置于老化测试室 的外部的检查装置主体电连接。 在下述专利文献1所记载的插座中，在插座内具有在两个面形成有多个弹性触点 (螺旋触点)的中继基板。在将电子部件安装在插座内时，经由所述中继基板的所述弹性触 点连接设置在电子部件的底面的BGA或LGA等外部触点与形成在老化测试板上的焊盘部。 专利文献1 :日本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种插座，其特征在于，具有：在内部保持电子部件的插座主体；在所述插座主体的底面侧隔着基底基板安装的加强板。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：冈本泰志，吉田信，
申请(专利权)人：阿尔卑斯电气株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]