一种实现ＳＴＭ－１接口的多路Ｅ１口的测试方法和系统技术方案

本发明专利技术公开了一种实现ＳＴＭ－１接口的多路Ｅ１口的测试方法和系统，该方法包括：将中间设备线路侧的ＳＴＭ－１接口上的每个Ｅ１口与中间设备支路侧的Ｎ路Ｅ１口建立一一对应关系；将中间设备支路侧的Ｎ路Ｅ１口依次串联，形成Ｎ路Ｅ１口串联测试通道并连接ＳＤＨ测试仪，中间设备线路侧的ＳＴＭ－１接口对接被测设备的ＳＴＭ－１接口；ＳＤＨ测试仪通过Ｎ路Ｅ１口串联测试通道对被测设备的ＳＴＭ－１接口的所有Ｅ１口同时进行测试；其中，Ｎ为大于等于２的整数。本发明专利技术利用中间设备完成多路Ｅ１口串接及其到ＳＴＭ－１接口的映射，通过网管完成对ＳＴＭ－１接口上多路Ｅ１口的每路Ｅ１口的监控，实现了ＳＴＭ－１接口上多路Ｅ１口的同时测试。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种实现ＳＴＭ－１接口的多路Ｅ１口的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：　　Ａ、将中间设备线路侧的ＳＴＭ－１接口上的每个Ｅ１口与中间设备支路侧的Ｎ路Ｅ１口建立一一对应关系；　　Ｂ、将中间设备支路侧的Ｎ路Ｅ１口依次串联，形成Ｎ路Ｅ１口串联测试通道；　　Ｃ、将所述Ｎ路Ｅ１口串联测试通道连接同步数字体系ＳＤＨ测试仪，并将中间设备线路侧的ＳＴＭ－１接口对接被测设备的ＳＴＭ－１接口；以及　　Ｄ、所述ＳＤＨ测试仪通过Ｎ路Ｅ１口串联测试通道对被测设备的ＳＴＭ－１接口的所有Ｅ１口同时进行测试；　　其中，Ｎ为大于等于２的整数。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：申雅玲，
申请(专利权)人：中兴通讯股份有限公司，
类型：发明
国别省市：94[中国|深圳]