一种基于特征线的运动目标位姿光学测量方法技术

技术编号:5321390 阅读:281 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种基于特征线的运动目标位姿光学测量方法。它涉及视觉测量中的一种运动目标位姿测量技术,它解决了传统的监测系统测量精度低和稳定性差,以及对于特征点装配位置要求高的缺点。利用目标上两条不平行的直线的光学测量方法。提出了基于直线的位置姿态求取公式。使用该发明专利技术方法对位姿测量误差进行了仿真分析,同时给出了实际的测量误差。该发明专利技术方法对摄像机模型没有限制,且由于增加了带测量的测量基线,所以减少了位置姿态参数的测量精度对光学系统的依赖,实验结果表明,该方法可满足运动目标相对位置姿态的高精度测量的需求。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及视觉测量中的一种运动目标位姿测量技术,具体涉及一种基于特征线 的位姿光学测量方法。
技术介绍
传统的监测系统一般采用在运动目标上直接安装特征点,通过对特征点进行拍 摄,处理其图像信息获得飞行器运动参数的方法,此种方法特征点的布局直接影响测量精 度,具体而言,特征点间的测量基线越长,相同特征点定位误差条件下测量精度越高;反之 测量精度低。按照现有的方法和技术,为了提高测量精度必须增加特征点间的距离,但特征 点间的距离受限于运动目标的尺寸,同时特征点距离的增加导致配合目标重量的增加。而 已有的传统方法每个特征点至少需要两台摄像机。当采用目标上特征点对目标运动参数进 行测量时,其测量精度不仅与特征点在两个坐标系中的坐标测量精度有关,而且受特征点 间的相对位置的影响。
技术实现思路
本专利技术为了解决传统的监测系统测量精度低和稳定性差,以及对于特征点装配位 置要求高的缺点,而提出了。本专利技术的的测量过程如下在运动目标上安装特征点,首次设运动目标上存在不平行的两条直线L1和L2, P1, P2、P3和P4分别为直线上的点,其中点P1和P3位于直线L1上,点P2和P4位于直线L2上本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基于特征线的运动目标位姿光学测量方法,其特征在于它的测量过程如下:在运动目标上安装特征点,首次设运动目标上存在不平行的两条直线L↓[1]和L↓[2],P↓[1]、P↓[2]、P↓[3]和P↓[4]分别为直线上的点,其中点P↓[1]和P↓[3]位于直线L↓[1]上,点P↓[2]和P↓[4]位于直线L↓[2]上,所述的P↓[1]、P↓[2]、P↓[3]和P↓[4]四个点为特征点,定义所述四个特征点在目标坐标系和测量坐标系中的坐标分别为P↓[mi],P↓[gi],其中i=1,2,3,4;目标坐标系与运动目标固连,其原点O↓[m]取在运动目标的质心上,则P↓[mi]的值为定值;测量坐标系随运动目标...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:霍炬杨明关钰朱永丽
申请(专利权)人:哈尔滨工业大学
类型:发明
国别省市:93[中国|哈尔滨]

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1
相关领域技术
  • 暂无相关专利