【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种采用改良西门子法生产多晶硅
硼杂质的去除方法和装 置。提出双塔热耦反应精馏除去氯硅烷体系中硼杂质的方法和装置。其中反应剂与三氯氢 硅中的杂质硼化合物在反应精馏塔Tl中形成高沸物而除去。采用双塔热耦合技术,在节能 的同时,提高了含硼杂质的去除效率,使硼含量达到太阳能级或电子级多晶硅的要求。
技术介绍
目前,国内供给多晶硅的市场缺口巨大,半导体和太阳能电池工业对多晶硅的纯 度要求越来越高,而其中的金属杂质和碳等的含量是影响其性能的重要参数。因此,如何有 效地除去多晶硅中金属杂质成为多晶硅行业的难题。其中含硼化合物成分复杂多样,与氯 硅烷体系的沸点十分接近,用多级精馏的方法去除三氯氢硅中含硼杂质的化合物的方法需 要较大的回流比和较大的理论板数,致使能耗及固定投资较高。因此,如何更有效地去除含 硼杂质化合物,同时降低能耗成为制约我国多晶硅生产企业发展的瓶颈之一。国内多采用改良西门子法生产多晶硅。此方法是将冶金级的硅粉与氯化氢在流化 床反应器中反应得到以三氯氢硅为主的氯硅烷,再将三氯氢硅提纯后与氢气在还原炉内进 行CVD反应得到多晶硅,并将尾气进行 ...
【技术保护点】
一种从三氯氢硅中除去含硼杂质化合物的方法,其特征在于:是在精馏塔T1塔底设置循环泵,将含有未反应的反应剂的物料部分泵循回精馏塔T1,循环量为进料量的6%~7%。且精馏塔T1为板式塔,精馏塔T2塔为填料塔或是板式塔;两塔的操作压力相同,操作工艺条件为:精馏塔T1和精馏塔T2塔操作压力相同,为100KPa~300KPa;精馏塔T1塔顶温度为32.2℃~68.0℃;精馏塔T2塔顶温度为29.9℃~64.0℃;精馏塔T2回流比为11~40。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:黄国强,石秋玲,王红星,华超,苏国良,
申请(专利权)人:天津大学,
类型:发明
国别省市:12[中国|天津]
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