【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种用于摄影测量用传感器为CCD图像传感器或CMOS图像传感 器的专用传感器立体标定装置。
技术介绍
由于CXD图像传感器或CMOS图像传感器具有测试精度高、测试速度快、环境适应 性好、使用方便等诸多优点,因此该两种图像传感器是各类数字摄影测量的首选传感器。尽管CXD图像传感器或CMOS图像传感器各像元(或称像素)的分布十分规整、且 位置精度非常高,但各像元彼此之间的间距不可避免会存在一定的微小误差,这种误差会 带来摄影测量图像的奇变。奇变的大小取决于被测对象的实体尺寸与CCD图像传感器或 CMOS图像传感器成像靶面尺寸的比值,即被测对象实体尺寸越大图像奇变越严重。摄影测 量结果来自于对图像的参数识别,由此可见,奇变严重的摄影测量图像,必然带来大的测量 误差。为此在进行数字摄影测试之前需对CCD图像传感器或CMOS图像传感器进行奇变校 正,工程测试领域将其称为传感器标定。目前,CXD图像传感器或CMOS图像传感器标定常用的装置是平面方格图。平面方 格标定装置的缺点是不适合于高度变化悬殊、尺寸较大的实体被测对象(如车辆、飞机、舰 船等),其原因是利用对被 ...
【技术保护点】
一种数字摄影测量传感器用立体标定装置,其特征是由底架(1)和分布在CCD图像传感器或CMOS图像传感器视觉范围内的三组高度不同的测量标志点组成;测量标志点设在圆柱体的顶端,圆柱体的下端与底架(1)相连,圆柱体的轴线与所述底架垂直。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:何耀华,张国方,杨灿,王超敏,廖聪,柯杰,
申请(专利权)人:武汉理工大学,
类型:实用新型
国别省市:83[中国|武汉]
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