【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种用于提高数字摄影测量精度的光学测量标志,特别是一种用 于对被测对象位置与位移高精度数字摄影测量的光学测量标志。
技术介绍
由于数字摄影测量技术具有测试精度高、测试速度快、环境适应性好、使用方便等 诸多优点,因此数字摄影测量技术在当今社会人类生产与生活的各个领域均得到了十分广 泛的应用。数字摄影测量所用的传感器主要是CXD图像传感器及CMOS图像传感器,利用CXD 或CMOS图像传感器测量被测对象的位置与位移时,均存在一定的边缘效应,即被测对象图 像的边缘会有一定的失真。导致边缘效应或失真的原因主要有以下几方面①被测对象边缘的不规整;②被测对象的边缘由复杂的三位曲面构成;③被测对象外形的尺寸误差(对于汽车车体,其尺寸误差一般为5 IOmm);④被测对象的形状误差(对于汽车车体,其形状误差一般为3 5mm)。无论是哪一 种原因导致的边缘效应均不可避免会带来对位置、位移的测量误差。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题是提供一种用于提高数字摄影测量精度的数字 摄影测量光学标志,以避免边缘效应所产生的测试误差。本技术解决其技术问题采用以下的技术方案由反光图标 ...
【技术保护点】
一种数字摄影测量光学标志,其特征是由反光图标和毛面的黑色磁性橡胶底衬两部分组成,其中:所述反光图标用白色反光材料涂覆在毛面的黑色磁性橡胶底衬表面,该反光图标的形状为圆形或环形。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:何耀华,张国方,杨灿,王超敏,廖聪,柯杰,
申请(专利权)人:武汉理工大学,
类型:实用新型
国别省市:83[中国|武汉]
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