一种电子产品老化房用多点测控温系统技术方案

技术编号:5120919 阅读:208 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术公开了一种电子产品老化房用多点测控温系统,包括分别布设在老化房内有效老化区域中且相应分别对多个温区温度进行检测的多个温度检测单元、对应分别布设在所述多个温区内的多个加热风机、对所述多个温度检测单元所检测温度信号进行采集处理及A/D转换处理的智能温度采集及A/D转换电路和通过控制电路对多个加热风机进行综合控制的主控机,多个温度检测单元均接智能温度采集及A/D转换电路且所述智能温度采集及A/D转换电路与主控机相接,控制电路分别与主控机和多个加热风机相接。本发明专利技术布设方便、使用操作简便且使用效果好,能有效克服现有老化房内老化区域中的温度分布不均匀、单点测温不准确、生产成本高等实际问题。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种电子产品老化房用测控温系统,特别是涉及一种电子产品老化房 用多点测控温系统。
技术介绍
老化房,又叫烧机房,是针对高性能电子产品(如计算机整机、显示器、终端机、 车用电子产品、电源供应器、主机板、监视器和交换式充电器等)仿真出一种高温、恶劣测 试环境的设备,是提高产品稳定性、可靠性的重要实验设备,该设备已广泛应用于电源电 子、电脑、通讯、生物制药等领域。电子产品的高低温老化试验是排除电子产品早期失效,控制产品质量的必要手 段。老化房内温度分布的均勻性是老化房的重要技术指标,将直接影响放置在不同老化房 区域内电子产品的老化结果。目前,国内很多企业的电子产品老化房,其温度控制系统所检 测的范围仅仅是老化房内某一点的温度,对于有效老化区域内其它点的温度分布情况及其 随时间的变化情况,不能进行动态的检测记录,因而难以解决老化房内温度分布不均勻的 实际问题,从而大大影响了电子产品高低温老化试验的试验效果。为了保证电子产品的老 化结果,应该对老化房内有效老化区域中温度分布的整体动态情况进行检测记录,以便调 整老化房的热供应分布,使有效老化区域的温度场变化控制在电子产品老化温度本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电子产品老化房用多点测控温系统,其特征在于:包括分别布设在老化房(3)内有效老化区域中且相应分别对多个温区温度进行实时检测的多个温度检测单元、对应分别布设在所述多个温区内的多个加热风机(1)、对所述多个温度检测单元所检测温度信号进行采集处理及A/D转换处理的智能温度采集及A/D转换电路(5)和通过控制电路(6)对所述多个加热风机(1)进行综合控制的主控机(4),所述多个温度检测单元均接智能温度采集及A/D转换电路(5)且所述智能温度采集及A/D转换电路(5)与主控机(4)相接,所述控制电路(6)分别与主控机(4)和多个加热风机(1)相接。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:麻树波张国琦曹捷潘海俊
申请(专利权)人:西安中科麦特电子技术设备有限公司
类型:发明
国别省市:87[中国|西安]

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