UV量指示剂薄膜制造技术

技术编号:5085773 阅读:251 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本申请提供一种根据吸收辐照量显示颜色变化的uv量指示剂薄膜和油墨,包含(a)选择的酸响应着色剂;(b)作为光潜酸的磺酰基肟酯化合物或-N-O-磺酰化合物。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】UV量指示剂薄膜本专利技术涉及UV量指示剂薄膜及其用途。在WO 02/101462中公开了 一种激光标记方法,其使用包含着色剂和光潜酸 (photolatent acid)的组合物。当曝光时而着色的组合物从W002/100914、US 7091257和 WO 04/05 中是已知的。WO 05/097876提供了着色涂料组合物的方法。对于辐照加工,更特别地对于辐照固化来说,一个反复出现的问题是确定在辐照 敏感层覆盖的基底上的辐照(例如UV光或EB量)的能线图。所述的能线图的确定是重要 的,这是因为在可辐照固化涂层上能量再分配决定了在整个涂覆表面上的固化分布和涂层 性能。一些已经市售的光指示剂条带主要的缺点是它几乎不可能表征在具有复杂形状 的3D基底上的能线图。此外,着色强度常常取决于固化温度。根据本专利技术的UV量或EB量指示剂目的是提供对于给定的涂料体系(或者更通常 的对于处理程度,特别是对于涂料、粘合剂和油墨配方的固化以及对于在三维基底上的涂 料)的着色强度、所吸收的能量量和固化度之间的关系。如今已发现一种用于测定UV光源、等离子体发生器或电子束发出的辐照的剂量 指示剂薄膜,其包含选自聚合物膜、纸张和铝箔的基底,所述基底涂有光敏层,特征在于该 光敏层包含(a)选自由以下化合物组成的组的酸响应着色剂权利要求1. 一种用于测定UV光源、等离子体发生器或电子束发出的辐照的剂量指示剂薄膜,其 包含选自聚合物膜、纸和铝箔的基底,所述基底涂有光敏层,特征在于该光敏层包含 (a)选自由以下化合物组成的组的酸响应着色剂2.根据权利要求1的剂量指示剂薄膜,其中薄膜上的光敏层通过保护层箔片覆盖,并 且在该剂量指示剂薄膜的辐照敏感层中具有任选的遮光剂,特别是氧化铁。3.根据权利要求1的剂量指示剂薄膜,其中光敏层包含作为光潜酸(b)的式IIa、IIb、 lie、IId或IIe的化合物4.根据权利要求3的剂量指示剂薄膜,其中光敏酸是选自下组的化合物5.-用于测定UV光源、等离子体发生器或电子束发出的辐照的剂量指示剂油墨,该油墨 (a)选自由以下化合物组成的组的酸响应着色剂6.用于测定UV光源、等离子体发生器或电子束发出的辐照的剂量指示剂油墨,该油墨 包含(a)选自由以下化合物组成的组的酸响应着色剂7.根据权利要求1的剂量指示剂薄膜,或根据权利要求5或6的剂量指示剂油墨,其中 酸响应着色剂(a)以0. -20%的浓度存在。8.根据权利要求1的剂量指示剂薄膜,或根据权利要求5或6的剂量指示剂油墨,其中 光潜酸(b)以0. -20%的浓度存在。9.测定根据权利要求1的剂量指示剂薄膜所吸收的辐照量的方法,该方法通过视觉上 或比色法测量来测量经照射的薄膜的颜色强度,经由从未经照射的薄膜到经照射的薄膜的 颜色变化给出与辐照量的直接相关性,特征在于薄膜包含如权利要求1所定义的光敏层。10.测定根据权利要求5或6的剂量指示剂油墨所吸收的辐照量的方法,该方法通过视 觉上或比色法测量来测量经照射的油墨的颜色强度,经由从未经照射的剂量指示剂油墨到 经照射的剂量指示剂油墨的颜色变化给出与辐照量的直接相关性,特征在于油墨包含如权利要求5所定义的组分(a)、(b)、(c)和(d)或包含如权利要求6定义的组分(a)、(b)和 ⑴。11.如权利要求1所述的剂量指示剂薄膜或如权利要求5或6所述的剂量指示剂油墨 用于测定基底所吸收的辐照量的用途。全文摘要本申请提供一种根据吸收辐照量显示颜色变化的uv量指示剂薄膜和油墨,包含(a)选择的酸响应着色剂;(b)作为光潜酸的磺酰基肟酯化合物或-N-O-磺酰化合物。文档编号G01J1/50GK102067035SQ200980113963 公开日2011年5月18日 申请日期2009年2月3日 优先权日2008年2月21日专利技术者G·哈勒, K·施图德尔 申请人:巴斯夫欧洲公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于测定UV光源、等离子体发生器或电子束发出的辐照的剂量指示剂薄膜,其包含选自聚合物膜、纸和铝箔的基底,所述基底涂有光敏层,特征在于该光敏层包含:  (a)选自由以下化合物组成的组的酸响应着色剂  ***;和  (b)至少一种作为光潜酸的磺酰基肟酯化合物或-N-O-磺酰基化合物。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员:K施图德尔G哈勒
申请(专利权)人:巴斯夫欧洲公司
类型:发明
国别省市:DE[德国]

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