光学显示装置制造系统及光学显示装置制造方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种能够更好地进行缺点检查的光学显示装置制造系统及光学显示装置制造方法。根据由检查装置（３０）进行的对被贴合了光学薄膜的光学显示装置的检查结果，修正由缺点检查装置（１４、２４）进行的被贴合到光学显示单元之前的光学薄膜的检查中的缺点的检测条件，将包含由缺点检查装置（１４、２４）根据该修正后的检测条件检测出的缺点的光学薄膜排除。由此，由于能够按照之后由检查装置（３０）进行的缺点检查的基准，调整由缺点检查装置（１４、２４）进行的缺点检查的基准，所以可以更好地进行缺点检查，能够提高光学薄膜的成品率。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及用于从光学薄膜被卷绕成辊状而形成的辊状卷料送出所述光学薄膜， 将其切断为规定尺寸并贴合到光学显示单元上，来制造光学显示装置的光学显示装置制造 系统及光学显示装置制造方法。
技术介绍
图7中示意性地表示了以往的液晶显示装置中安装的光学显示装置的制造方法。 首先，在光学薄膜制造厂中，将具有光学薄膜的长条(带状)片材状制品制造成辊状卷料 (#1)。由于该具体的制造工序是公知的制造工序，所以省略说明。作为该长条(带状)片 材状制品的辊状卷料，例如有液晶显示装置中使用的偏光板卷料、相位差板卷料、偏光板 与相位差板的层叠薄膜卷料等。接着，将辊状卷料剪裁成规定尺寸(遵照光学显示单元尺 寸的尺寸)(#2)。然后，将被剪裁后的长条卷料按照所贴合的光学显示单元的尺寸定量切断 (#3)。接着，对定量切断后的单片片材状制品(光学薄膜)进行外观检查(#4)。作为该检 查方法，例如可举出基于目视的缺点检查、采用公知的缺点检查装置的检查。缺点例如是 指表面或内部的污损、瑕疵、夹入异物的擦痕的扭拧后的特殊状缺点(有时称作弯结)、气 泡、异物等。接着，进行成品检查(#5)。成品检查是按照比外观检查在合格品判定上更严厉 的品质基准所进行的检查。接着，对单片片材状制品的4个端面进行端面加工(#6)。这是 为了防止在输送中，不从端面露出粘结剂等而进行的加工。然后，在清洁室环境中，对单片 片材状制品进行清洁包装(#7)。接着，为了输送而进行包装(输送捆包)(#8)。如上所述 那样制造单片片材状制品之后，将其输送到面板加工厂。在面板加工厂中，拆开输送来的单片片材状制品的捆包(#11)。接着，为了检查在 输送中或拆开捆包时产生的瑕疵、污损等而进行外观检查(#12)。通过检查被判定为优良品 的单片片材状制品被向下道工序搬送。另外，有时也省略该外观检查。预先制造了单片片 材状制品所贴合的光学显示单元(例如封入有液晶单元的玻璃基板单元)，光学显示单元 在贴合工序之前被洗涤(#13)。将单片片材状制品与光学显示单元贴合(#14)。从单片片材状制品上残留粘结剂 层地剥离分型薄膜，将粘结剂层作为贴合面贴合到光学显示单元的一个面。并且，在光学显 示单元的其他面上也能够同样地贴合。在对两个面贴合的情况下，可以构成为对光学显示 单元的各个面贴合同一构成的光学薄膜，也可以构成为贴合不同构成的光学薄膜。接着，进 行对贴合了光学薄膜的状态的光学显示装置的检查及缺点检查(#15)。通过该检查而判定 为优良品的光学显示装置被搬送到安装工序(#16)。另一方面，对被判定为非优良品的光学 显示装置实施再加工(rework)处理(#17)。在再加工处理中，光学薄膜被从光学显示单元 上剥离。再加工处理后的光学显示单元被重新贴合光学薄膜(#14)。当如上所述那样在光学薄膜制造厂中制造单片片材状制品时，提出了以下方法 预先检测辊状卷料的缺陷，并以条形码的方式将该检测到的缺陷的位置信息印到辊状卷料 上、或将该位置信息存储到存储装置(专利文献1及2)。在这些方法中，通过根据条形码或从存储装置读取的上述位置信息对偏光板进行打孔，可以从生产线将包含偏光板的缺陷的 部分除去。在以上的制造工序中，由于光学薄膜制造厂与面板加工厂存在于各自不同的场 所，所以尤其是端面加工、单片片材状制品的包装、捆包拆解等成为必要的工序。但是，因为 多道工序而存在制造成本提高的问题，而且，还存在因多道工序、输送而产生的瑕疵、尘埃、 污损等问题、与之相伴的检查工序的必要性、和必须对多种单片片材状制品进行库存保管、管理等问题。作为解决该问题的方法，提出了日本特开2007-140046号公报(专利文献3)的方 案。根据该专利技术，具备从具有作为光学显示装置的部件的光学薄膜的带状片材状制品被 卷绕而成的辊状卷料，抽出带状片材状制品来进行供给的供给机构；对由供给机构抽出的 带状片材状制品的缺陷进行检测的检测机构；根据检测机构的检测结果，切断带状片材状 制品，加工成各个片材状制品的切断加工机构；为了进行贴合加工，而输送被切断加工机构 切断加工后的片材状制品的输送机构；和将被输送机构输送的片材状制品与作为光学显示 装置的部件的光学显示单元贴合的贴合加工机构；将这些各机构配置到连续的生产线工序 上。在上述构成中，可以从具有光学薄膜的带状片材状制品直接切断加工成所希望的尺寸， 将该切断后的片材状制品贴合到光学显示单元上。因此，在以往的情况下，当对带状片材状 制品进行打孔，并将打孔后的片材状制品严格捆包，向面板加工厂交货时，能够将卷绕成辊 状卷料的带状片材状制品直接捆包进行交货。专利文献1日本特开2005-62165号公报专利文献2日本特开2005-114624号公报专利文献3日本特开2007-140046号公报在如上述专利文献1及2那样的方法中，通过根据预先检测出的缺陷的位置信息， 对偏光板进行打孔，能够将不包含缺陷的偏光板制造成为单片片材状制品。但是，在实际对 光学显示单元贴合如此制造的单片片材状制品时，由于上述那样的因输送产生的瑕疵、尘 埃、污损等问题，有可能在片材状制品产生新的缺陷。对此，在如上述专利文献3那样的方法中，由于从光学薄膜制造厂向面板加工厂 交货的辊状卷料，在对光学显示单元即将贴合之前被切断，所以能够抑制如上所述那样伴 随输送而产生新的缺陷的情况。但是，即便是这样的方法，为了制造更高品质的光学显示装 置，也优选在被贴合到光学显示单元之前，对从交货的辊状卷料抽出而要贴合到光学显示 单元上的光学薄膜进行检查。而且，在上述那样的贴合前对光学薄膜的检查的基础上，还要 对被贴合了该光学薄膜的光学显示装置进行检查。但是，如上所述那样在贴合的前后进行缺点检查的情况下，当贴合前的缺点检查 的基准比贴合后的缺点检查的基准高时等，有时在贴合后的缺点检查中不被检查为缺点的 程度的微小缺点，会在贴合前的缺点检查中被严格检测。而且，即使光学薄膜的制造工序与 面板的加工工序在同一厂中进行的情况下，当这些工序在不同的生产线上进行时，也同样 要考虑该严格检查的情况。
技术实现思路
本专利技术鉴于上述的实际情况而提出，其目的在于，提供一种能够更恰当地进行缺点检查的。为了解决上述课题，通过不懈的研究，结果完成了以下的本专利技术。第1本专利技术涉及的光学显示装置制造系统，用于通过从光学薄膜被卷绕成辊状而 形成的辊状卷料送出所述光学薄膜，将其切断为规定尺寸并贴合到光学显示单元上，来制 造光学显示装置，其特征在于，具备对贴合到所述光学显示单元之前的所述光学薄膜进行 检查，来检测缺点的光学薄膜检查机构；对贴合了所述光学薄膜的所述光学显示装置进行 检查，来检测缺点的光学显示装置检查机构；根据所述光学显示装置检查机构的检查结果， 修正所述光学薄膜检查机构对所述光学薄膜检查缺点的检测条件的检测条件修正机构；和 根据修正后的所述检测条件，将包含由所述光学薄膜检查机构检测到的缺点的光学薄膜排 除的排除机构。通过该构成，根据由光学显示装置检查机构进行的对贴合了光学薄膜的光学显示 装置的检查结果，来修正由修正光学薄膜检查机构进行的对被贴合到光学显示单元之前的 光学薄膜的检查中的缺点的检测条件，将包含由光学薄膜检查机构根据该修正后的检测条 件检测出的缺点的光学薄膜排除。因本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光学显示装置制造系统，用于通过从光学薄膜被卷绕成辊状而形成的辊状卷料送出所述光学薄膜，将其切断为规定尺寸并贴合到光学显示单元上，来制造光学显示装置，其特征在于，具备：对贴合到所述光学显示单元之前的所述光学薄膜进行检查，来检测缺点的光学薄膜检查机构；对贴合了所述光学薄膜的所述光学显示装置进行检查，来检测缺点的光学显示装置检查机构；根据所述光学显示装置检查机构的检查结果，修正所述光学薄膜检查机构对所述光学薄膜检查缺点的检测条件的检测条件修正机构；和根据修正后的所述检测条件，将包含由所述光学薄膜检查机构检测到的缺点的光学薄膜排除的排除机构。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：北田和生，由良友和，小盐智，中园拓矢，
申请(专利权)人：日东电工株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]