一种与液氦温度低温靶配套的实验系统技术方案

技术编号:4998991 阅读:431 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术公开了一种与用于冲击压缩实验的液氦温度低温靶配套使用的实验系统,包括:靶室、低温靶、柔性接头、管筒、大法兰、液氦输液组件、排气及减压组件、样品气供气组件、真空系统、泵阀同步控制系统和温度检测控制系统。实验系统通过柔性接头和泵阀同步控制系统的设计,实现了实验设备(液氦温度低温靶除外)的可重复使用。实验系统通过真空系统和排气及减压组件的设计实现了稳定的3.6K最低温度。实验系统通过温度检测控制系统的设计实现了3.6K~80K温区温度精确可控。本发明专利技术与液氦温度低温靶的配套使用实现获得了3.6K~80K之间任一温度的均匀稳定液态样品。该实验系统已成功应用于样品氦的冲击压缩实验。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于制冷及低温领域,涉及一种用于冲击压缩实验,通过与液氦温度低 温靶配套使用实现获得3.6K 80K之间任一温度均勻稳定液态样品的实验系统。
技术介绍
氢、氦元素是宇宙丰度最高的元素,其高温、高密度下的物态方程在地球物 理、天体物理和武器研究等方面有着广泛的应用背景,因此国内外均高度重视对氢、氦 等元素的高温高密度物态方程的研究。冲击压缩技术是研究物质高温、高密度物态方程 的主要实验途径,国外自上世纪60年代以来相继开展了有关低温液体的冲击压缩实验。 美国LIVERMORE实验室分别研制了用于工作环境为ICT3Pa下的液氦、液氘、液氢、液 氮、液氧和液氩等多种物质的冲击压缩实验的低温靶及其配套的实验系统。由于二级轻气炮实验技术接口的特殊原因,液氦温度低温靶(详见一种用于冲 击压缩实验的液氦温度低温靶专利)需要在约IOOPa的低真空、室温环境下工作,环境通 过靶板对样品室漏热更大,样品液化的难度更高,因此对于与液氦温度低温靶配套的实 验系统要求也更高,主要技术要求如下1、在3.6K 80K较大温区精确可控,能够直 接液化高纯氦、氢和氘等样品气体,直接用于液氦、液氢和液氘等低本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种与液氦温度低温靶配套的实验系统,其包括:一靶室(20),所述靶室(20)顶端含有一个法兰接口;一液氦温度低温靶(21);所述液氦温度低温靶(21)置于上述靶室(20)之内,所述液氦温度低温靶(21)包括:一气冷屏内筒,所述气冷屏内筒筒壁上刻有螺旋形凹槽;一紧密地套装于所述气冷屏内筒外壁上的气冷屏外筒;所述气冷屏外筒内壁与所述气冷屏内筒筒壁上的螺旋形凹槽之间形成螺旋形气冷屏腔体(10);所述气冷屏内筒和气冷屏外筒等长形成气冷屏后端面和气冷屏前端面;分别盖于所述气冷屏后端面和气冷屏前端面的后挡板(18)和前挡板(13);所述后挡板(18)和前挡板(13)的中心处分别设有中心孔;装于所述前挡板(...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:洪国同罗宝军李建国梁惊涛蔡京辉
申请(专利权)人:中国科学院理化技术研究所
类型:发明
国别省市:11[中国|北京]

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