分析制造技术

本发明专利技术描述了针对多个分析物中每一个分析物对样品进行分析的方法。所述方法包括将间隔开的测试区的阵列与液体样品（例如全血）接触。测试区布置在微流装置的通道内。通道由至少一个柔性的壁和可以是或可以不是柔性的第二壁限定。每个测试区包含专用于相应的靶分析物的探针化合物。压缩所述微流装置以缩小通道的厚度，所述厚度是通道内的各壁的内表面之间的距离。通过光学检测在相应位置处缩小了内表面之间距离的多个测试区中每个测试区处的相互作用，确定每种分析物的存在。每个测试区处的相互作用表明样品中靶分析物的存在。装置的或用于所述方法的毛细结构可以包含基质，并且所述装置可以包含控制元件，用于分析样品的方法可以使用相应的控制行为。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及分析(例如，对于样品中一种或多种分析物的分析)。技术背景能够执行分析来确定样品中一种或多种分析物的存在。阵列可用于在样品上 (例如对于多种不同分析物的每一个)执行多重分析。典型的阵列包括具有多个间隔开的 测试区的基板，每个测试区具有不同的探针化合物，例如多核苷酸、抗体或蛋白质。在 使用中，阵列与样品接触，样品然后与阵列的各部位相互作用。对于每个部位，所述相 互作用能够包括，例如，相应的分析物与所述部位的探针化合物的结合和/或相应的分 析物与所述探针化合物之间的化学反应。反应产生可检测的产物(例如，沉淀物)。相 互作用的存在和程度依赖于样品中是否存在相应的分析物。典型地，所述相互作用是通过光学检测的(例如，通过荧光)。例如，光学检测 能够使用在至少一(例如，二)维上具有多个互相间隔开的光敏元件(例如像素)的成像 检测器(例如CCD)来执行。每个光敏元件被布置为接收来自所述基板的不同空间位置 的光。因此，由多个光敏元件同时检测到的光能够被组合，以在基板的至少一(例如， 二)维中形成图像数据。所述图像数据能够被评估，以确定所述阵列的多个部位处相互 作用的存在和/或程度。
技术实现思路
本专利技术涉及分析(例如，对于样品中多个分析物的分析)。在一个方面，方法包括将间隔开的测试区的阵列与液体样品接触，所述测试区布置在微流装置的第一 基板的内表面和第二基板的内表面之间，所述基板的至少一个是柔性的，每个测试区都 包含被配置用于参与靶分析物的分析的探针化合物，缩小在对应于测试区的位置处第一和第二基板的内表面之间的距离，和继而光学检测多个测试区的每一个处相互作用的存在，对于所述测试区缩小了 在相应位置处的内表面之间的距离，每个测试区处的相互作用指示出样品中靶分析物的存在。所述方法能够进一步包括，对于多个测试区的每一个，基于光学检测的相互作 用来检测相应分析物的存在。对至少一些测试区的每一个来说，多个测试区的每一个处的相互作用可以是分 析物和测试区的探针化合物之间的结合(binding)反应。光学测定可以包括使用零级检测器检测来自每一个测试区的光。使用零级检测器检测来自每一个测试区的光可以基本上由用所述零级检测器的 检测光组成。所述方法能够进一步包括，对于缩小了所述第一和第二基板的内表面之间的距 离的多个位置的每一个，在测试区处光学测定的步骤之后，继而增加所述内表面之间的距离。缩小距离可以包括顺序地缩小在对应于测试区的位置处第一和第二基板的内表 面之间的距离。在这个实施方式中，所述方法能够进一步包括，对于缩小了所述第一和 第二基板的内表面之间的距离的多个位置的每一个，在测试区处光学检测结合的步骤之 后，继而增加所述内表面之间的距离。光学测定可以包括顺序地检测针对其缩小相应位置处的内表面之间的距离的多 个测试区中每一个处的相互作用。在一种实施方式中，光学检测包括同时检测来自不超 过数量N个的测试区的光，其中NS5或NS3或N= 1。或者，光学测定包括使用零级检 测器检测来自每个测试区的光。使用零级检测器检测来自每一个测试区的光可以基本上 由用所述零级检测器的检测光组成。光学检测可以包括将微流装置相对于用于执行光学测定的光学检测器的光学探 测区进行平移。缩小距离包括将微流装置相对于向所述微流装置施加压缩力的构件进行平移。 相对于所述构件平移微流装置可以包括将所述构件的至少一部分旋转。每个测试区可以是细长的并限定了长轴。此外，平移微流装置可以包括沿着通 常垂直于多个测试区每一个的长轴的平移轴来平移所述装置。例如，平移轴与多个测试 区的长轴的垂直在10°以下的偏差内，或甚至在5°以下的偏差内。此外，平移轴与大多数乃至所有测试区的长轴通常是垂直的。方法还可以包括，在平移步骤期间，读取微流装置的参考码中包含的信息，并 基于读取信息确定多个测试区的每一个的性质。测定可以包括，对多个测试区的每一个，测定表示何时测试区处于用于执行光 学检测的光学检测器的检测区中的值。此外，测定可以包括测定微流装置的测试区的理 化性质。例如，所述理化性质是能够被多个测试区的每一个测定的分析物的指示。此外，测定可以包括在使用之前测定微流装置内储存的试剂的同一性(identity)。沿着长轴的长度与沿着测试区的垂直维度的宽度的比率可以是至少2.5或甚至至 少5。可以在接触步骤之后就执行光学检测的步骤，而无需先用不含样品的液体接触 测试区。光学测定可以包括激发和检测来自测试区的荧光。在另一个方面，方法包括将间隔开的测试区的阵列与样品接触，所述测试区布置在第一和第二表面之 间，每个测试区包含被配置用于参与相应分析物的分析的探针化合物，缩小对应于测试区的位置处内表面之间的距离，和顺序地光学测定缩小了在相应位置处内表面之间的距离的多个测试区中每一个 的分析的结果。所述方法能够进一步包括，对于多个测试区中每一个，基于分析的结果确定相 应分析物的存在。对至少一些测试区的每一个，分析的结果可以指示分析物和测试区的探针化合 物之间的结合反应。光学测定可以包括使用零级检测器检测来自每一个测试区的光。使用零级检测器检测来自每一个测试区的光可以基本上由用所述零级检测器的 检测光组成。所述方法可以进一步包括，对于缩小内表面之间的距离的多个位置中的每一 个，在测试区处的光学测定的步骤之后，随后增加所述内表面之间的距离。缩小距离可以包括顺序地缩小对应于测试区的位置处的内表面之间的距离。在另一个方面，系统包括微流装置读取器，其被构造用于容纳微流装置，微流装置包含间隔开的测试区 的阵列，测试区布置在所述微流装置的第一基板的内表面和第二基板的内表面之间，至 少一个所述基板是柔性的，每个测试区包含被配置用于参与对靶分析物的分析的探针化 合物，光学检测器，其被构造用于当至少一个测试区处于微流装置的检测区中时，检 测来自所述至少一个测试区的光，平移器，其被构造用于将微流装置和光学检测器的检测区中的至少一个相对于 另一个进行平移，压缩器，其被构造用于将对应于光学装置的检测区的位置处第一和第二基板的 内表面之间的距离缩小，处理器，其被构造用于接收来自光学检测器的信号，所述信号指示出从测试区 检测到的光。所述系统可以被构造成同时地光学检测来自不超过数量N个的测试区的光，其 中N《5，或N《3，或N = 1。检测器可以是荧光检测器。在另一个方面中，分析装置包含第一和第二基板，在所述第一基板与第二基板之间定义了通道，至少一个基板是柔性的，所述通道包含间隔开的测试区的阵列，每个 测试区包含用于被配置用于参与对靶分析物分析的探针化合物。在另一个方面中制造的物品包含基板，和多个细长的测试区，每个测试区都包含被配置用于参与对靶分析物的分析的相 应探针化合物，每个测试区都定义了长轴和与其垂直的宽度，以及所述各测试区的各长 轴通常是平行的。在另一个方面，装置包含盒箱(cartridge)，所述盒箱具有微流体通道和微流体流 路，所述微流体通道包括具有基质的毛细管入口、以及与毛细管入口流体连通的检测区 域；所述微流体流路具有至少部分可形变的壁并与所述通道的检测区域流体连通。所述装置还可以包含控制元件。微流体通道可以包含第一端和第二端，其中可以在所述第一和第二端之间布置 毛细管入口、检测区域和被构造用于对本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于检测样品中分析物的装置，所述装置包括：　　盒箱，所述盒箱具有：　　微流体通道，其包括具有基质的毛细管入口和与所述毛细管入口流体连通的检测区域；　　微流体流路，其具有至少部分可形变的壁并与通道的检测区域流体连通。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：尤金埃曼特劳特，托马斯凯泽，延斯图赫舍雷尔，维克贝尔，托尔斯滕舒尔茨，安克沃斯特梅耶尔，
申请(专利权)人：科隆迪亚戈有限公司，
类型：发明
国别省市：DE[德国]