一种全数字的开关电容ｓｉｇｍａ－ｄｅｌｔａ调制器可测性设计电路及方法技术

本发明专利技术涉及一种全数字的开关电容ｓｉｇｍａ－ｄｅｌｔａ调制器可测性设计（ＤＦＴ）方法，包括：根据已设计的待测ｓｉｇｍａ－ｄｅｌｔａ调制器结构进行修改，在进行测试时，原始的输入端连接到Ｇｎｄ；复用待测ｓｉｇｍａ－ｄｅｌｔａ调制器本身包含的一位反馈ＤＡＣ，将其重新配置为三个输出级Ｖｒｅｆ＋、Ｇｎｄ和Ｖｒｅｆ－；由量化器数字输出（Ｄ０）与施加的数字激励（Ｄｓ）之差决定该反馈ＤＡＣ的输出，并通过分析数字激励及量化器数字输出测得待测ｓｉｇｍａ－ｄｅｌｔａ调制器的性能。本发明专利技术还提出一种对应的ＤＦＴ电路。本发明专利技术的技术方案提供了一种全数字的开关电容ｓｉｇｍａ－ｄｅｌｔａ调制器ＤＦＴ方法，不需要采用昂贵的模拟激励源测试调制器，测试成本很低，测试时间较短，具有ａｔ－ｓｐｅｅｄ测试能力，能够有效地降低产品ｔｉｍｅ－ｔｏ－ｍａｒｋｅｔ时间。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种全数字的开关电容ｓｉｇｍａ－ｄｅｌｔａ调制器可测性设计电路，其特征在于，该电路包括：输入端开关（Ｓ２），设置于待测ｓｉｇｍａ－ｄｅｌｔａ调制器的输入端，用于在进行测试时将输入信号切换至新增的接地Ｇｎｄ端；三向参考电平开关（Ｓ１），设置于所述待测ｓｉｇｍａ－ｄｅｌｔａ调制器的第一级积分器参考电平输入端，与所述参考电平中新增的接地端对应；数字激励输入端口，用于输入数字激励（Ｄｓ）；数字加法器模块（Ａｄｄ），计算所述待测ｓｉｇｍａ－ｄｅｌｔａ调制器的量化器数字输出（Ｄ０）与数字激励（Ｄｓ）之差；在测试模式下利用所述数字加法器模块（Ａｄｄ）的输出决定所述第一级积分器的参考电平开关（Ｓ１）的连接状态，进而通过分析所述数字激励及量化器数字输出测得所述待测ｓｉｇｍａ－ｄｅｌｔａ调制器的性能。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：冯建华，任建国，叶红飞，
申请(专利权)人：北京大学，
类型：发明
国别省市：11[中国|北京]