全光谱瞄准具数字化检测装置制造方法及图纸

技术编号:4793898 阅读:236 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本实用新型专利技术涉及一种全光谱瞄准具数字化检测装置,其包括数字化平行光管系统以及计算机系统,数字化平行光管系统由辐射源、DMD数字微镜器件、DMD驱动电路以及准直系统构成,DMD数字微镜器件位于准直系统的焦面上,DMD数字微镜器件通过DMD驱动电路接收计算机系统输入的分划图案,辐射源发出的光谱辐射投射到DMD数字微镜器件的靶面上,由DMD数字微镜器件控制将投射到参与成像的像素点上的照明辐射反射到准直系统。本实用新型专利技术利用DMD数字微镜器件金属反射膜像素点的全光谱反射特性,辅之以相应的照明辐射源和准直系统,可以在红外热成像、可见光、微光夜视仪及紫外成像等全光谱的范围内灵活的生成检测所需的无穷远检测靶标。(*该技术在2019年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种瞄准具检测技术,具体地说是一种全光谱瞄准具数字化检测装置
技术介绍
在武器系统中,瞄准具是确保打击精度,实现有效打击的关键环节。为确保武器系 统的准确有效,在生产、装调和维护等各个环节中,均需对瞄准具及其装调校正的各种技术 参数进行精确的检测。由于瞄准具大多通过指向远方的光学轴线与火力发射系统的发射轴 线之间的匹配关系来实现瞄准,因此对瞄准具各类技术参数的检测方案大多以各种不同性 能的平行光管为核心系统。 用于瞄准具检测的平行光管系统,通常由光源、分划板和准直光学系统构成。为了 适应不同的测量要求需要用到不同的分划板图案,传统的做法是针对不同的检测需求设计 和配备不同的分划板,并针对不同的测量项目换装不同的分划板。由于分划板需要经过专 门的设计和特殊的加工, 一套检测系统通常只能针对一些特定的检测项目,系统的灵活性 与适应性差。 为了改善检测系统的灵活性与适应性,有一种做法是利用LCD器件作为分划图案 生成器件,通过计算机软件根据实际使用要求生成所需的分划图案,形成的数字化检测系 统极大地扩展了检测系统的适用范围和检测能力,并对新的测量需求提供了低成本快速反 应的可能性。然而,现有的LCD分划技术采用的是透射式成像器件,与之配套的光学系统在 红外到紫外的宽波段内有效地实现功能是十分困难的。同时,LCD器件及其所配套使用的 偏振器件对紫外辐射的耐受性限制了其在紫外波段的应用。 随着军事斗争与军事科技的发展,瞄准具技术已向着更为广阔的光谱范围延伸, 针对目标热辐射的红外技术和针对飞行羽烟的紫外技术均获得了长足的发展,许多武器系 统同时装备有可见光、微光夜视、红外热成像、紫外成像等多种瞄准具,迫切需要针对红外 热成像瞄准具和紫外成像瞄准具检测与调校技术手段的支持,尤其是迫切需要开发出能够 同时对各种不同谱段瞄准具进行共轴调校的技术手段。
技术实现思路
本技术针对上述问题,提供一种全光谱瞄准具数字化检测装置,采用该系统 可以在全光谱范围内对瞄准具进行检测。 按照本技术的技术方案全光谱瞄准具数字化检测装置,包括数字化平行光 管系统以及计算机系统,其特征是所述数字化平行光管系统包括辐射源、匿D数字微镜器 件、匿D驱动电路以及准直系统,匿D数字微镜器件位于准直系统的焦面上,计算机系统的 数字分划图像输出接口与DMD驱动电路连接,DMD驱动电路的输出端与DMD数字微镜器件 连接,辐射源的输出端与匿D数字微镜器件连接,匿D数字微镜器件的信号输出端与准直系 统连接。 所述检测装置还包括辅助检测系统,辅助检测系统包括辐射源控制系统与外围测量装置;所述辐射源控制系统的输出与辐射源连接;所述外围测量装置的输出与数字化平行光管系统连接。所述外围测量装置包括角度测量装置与位移测量装置。 所述计算机系统中有系统控制软件;所述系统控制软件包括相互连接的分划图像生成模块、瞄准具测量流程控制模块及外围测量辅助系统控制模块;所述瞄准具测量流程控制模块分别管理和控制所述分划图像生成模块及外围测量辅助系统控制模块,所述分划图像生成模块利用所述数字分划图像输出接口与所述匿D驱动电路相连,所述外围测量辅助系统控制模块与所述辅助检测系统相连。 所述辐射源位于积分器的入口前方,所述积分器与照明投射系统连接,在所述照 明投射系统的输出光路上有匿D数字微镜器件,在匿D数字微镜器件的输出光路上有吸收 器。所述照明投射系统与匿D数字微镜器件之间增加一个反射镜。所述照明投射系统与 匿D数字微镜器件之间增加一组光路转折棱镜对。所述准直系统采用离轴抛物面反射系统, 所述离轴抛物面反射系统包括辅镜及主镜,所述辅镜位于匿D数字微镜器件的光路上,所 述主镜位于所述辅境的光路上。 本技术的技术效果在于通过计算机生成静态或动态分划图像,控制DMD数字微镜器件像素点的通、断实现分划图案的显示,可以灵活的生成、切换和用户定制分划靶标,使系统具有极强的检测项目适应能力和应用范围。利用匿D数字微镜器件金属反射膜像素点的全光谱反射特性,辅之以相应的照明辐射源和准直系统,可以在红外热成像、可见光、微光夜视仪及紫外成像等全光谱的范围内灵活的生成检测所需的无穷远检测靶标,所构建瞄准具检测的技术平台具有极强的辐射谱段适应能力和应用范围。采用全光谱数字平行光管系统不仅用一套系统实现了在全光谱不同谱段的检测需求,而且使得对各谱段瞄准具进行同轴检测的方法成为可能。利用计算机生成动态目标及场景图像,还可以在全光谱范围内实现景物模拟,进行全光谱范围内的系统功能模拟测试和模拟实训。附图说明图1为本技术的系统框图; 图2为本技术的数字化平行光管的第一种实施例; 图3为本技术的数字化平行光管的第二种种实施例; 图4为本技术的数字化平行光管的第三种实施例; 图5为本技术的离轴抛物面反射系统的结构示意图; 图6为本技术的计算机控制软件的原理框图。具体实施方式—种全光谱瞄准具数字化检测装置,包括数字化平行光管系统15以及计算机系 统12,所述数字化平行光管系统15包括辐射源1、DMD数字微镜器件4、DMD驱动电路14以 及准直系统5, DMD数字微镜器件4位于准直系统5的焦面上,DMD数字微镜器件4通过DMD 驱动电路14接收计算机系统12输入的分划图案,辐射源1发出的光谱辐射投射到匿D数 字微镜器件4的靶面上,由匿D数字微镜器件4控制,将投射到参与成像的像素点上的照明 辐射反射到准直系统5。 所述系统还包括辅助检测系统17,所述辅助检测系统17包括辐射源控制系统18,以及各种角度测量、位移测量等外围测量装置16,用于针对具体的技术指标进行系统状态调整与测量。 所述计算机系统12由系统控制软件11控制,所述系统控制软件11包括分划图像 生成模块21、瞄准具测量流程控制模块20及外围测量辅助系统控制模块19,所述瞄准具测 量流程控制模块20分别管理和控制所述分划图像生成模块21及外围测量辅助系统控制模 块19,所述分划图像生成模块21通过数字分划图像输出接口 13与所述DMD驱动电路14相 连,所述外围测量辅助系统控制模块19与所述辅助检测系统17相连。 所述辐射源1发出的光谱辐射耦合输入到积分器2的入口 ,经均化和光束整形后 在出口以均匀面光源的形式出射,照明投射系统3将积分器2出口按规定的入射角投影成 像到匿D数字微镜器件4的靶面上,利用匿D数字微镜器件4将投射到参与成像的像素点 上的照明辐射反射到准直系统5,将投射到不参与成像的像素点上的照明辐射反射到成像 光路以外,并通过吸收器6吸收。 所述照明投射系统3与DMD数字微镜器件4之间增加一个反射镜7。 所述照明投射系统3与匿D数字微镜器件4之间增加一组光路转折棱镜对。 所述准直系统5采用离轴抛物面反射系统,所述离轴抛物面反射系统包括辅镜9及主镜10,匿D数字微镜器件4接收辐射照明光源投射来的照明光束,并接收分划图像信号,将分划图案像素点的照明辐射反射到所述离轴抛物面反射系统的辅镜9,成像辐射经副镜投射到离轴抛物面主镜io后,准直为平行光束出射。 以下结合附图对本技术的具体实施方式作进一步的说明。 如图1所示,本技术其包括数字化平行光管系统15以及计算机系统12。数字化平行光管本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种全光谱瞄准具数字化检测装置,包括数字化平行光管系统(15)以及计算机系统(12),其特征是:所述数字化平行光管系统(15)包括辐射源(1)、DMD数字微镜器件(4)、DMD驱动电路(14)以及准直系统(5),DMD数字微镜器件(4)位于准直系统(5)的焦面上,计算机系统(12)的数字分划图像输出接口(13)与DMD驱动电路(14)连接,DMD驱动电路(14)的输出端与DMD数字微镜器件(4)连接,辐射源(1)的输出端与DMD数字微镜器件(4)连接,DMD数字微镜器件(4)的信号输出端与准直系统(5)连接。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:徐毅刚谢卫高照先
申请(专利权)人:无锡市星迪仪器有限公司
类型:实用新型
国别省市:32[中国|江苏]

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