基片处理装置和基片处理方法制造方法及图纸

技术编号:47091476 阅读:14 留言:0更新日期:2025-12-02 21:25
本发明专利技术的一个方式的基片处理装置使用超临界状态的处理流体对基片进行处理,所述基片处理装置包括:处理容器,其具有所述基片的送入送出口,在内部形成能够利用所述处理流体对所述基片进行处理的处理空间;盖体,其用于将所述送入送出口开闭;内侧密封部件,其以包围所述送入送出口的状态设置在所述处理容器与所述盖体之间;外侧密封部件,其在所述内侧密封部件的周围以包围所述送入送出口的状态设置在所述处理容器与所述盖体之间;移动机构,其能够使所述盖体在开放位置与封闭位置之间移动,在所述盖体位于所述开放位置时所述送入送出口开放,在所述盖体位于所述封闭位置时所述外侧密封部件与所述处理容器及所述盖体接触;抽吸流路,其用于抽吸由所述内侧密封部件和所述外侧密封部件包围的气氛;流量计,其用于检测在所述抽吸流路中流动的流体的流量;压力传感器,其用于检测所述抽吸流路的压力;和控制电路,其中,所述控制电路执行如下所述的工序a~工序d,工序a,使所述盖体从所述开放位置移动至所述封闭位置,工序b,在所述工序a之后通过所述抽吸流路抽吸所述气氛,工序c,计算从开始所述气氛的抽吸起至所述抽吸流路的压力成为阈值以下为止的期间内在所述抽吸流路中流动的所述流体的累计流量,工序d,基于所述累计流量,判断所述内侧密封部件的状态。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

本专利技术涉及基片处理装置和基片处理方法


技术介绍

1、已知一种在处理容器内使用超临界状态的处理流体对基片进行处理的基片处理装置(例如,参照专利文献1)。在处理容器设置有用于送入送出基片的送入送出口。送入送出口被盖体封闭。在处理容器的外表面与盖体之间以包围送入送出口的状态设置有双重密封机构。

2、现有技术文献

3、专利文献

4、专利文献1:日本专利第5655735号公报


技术实现思路

1、专利技术要解决的技术问题

2、本专利技术提供一种能够抑制处理容器的内部的污染的技术。

3、用于解决技术问题的技术手段

4、本专利技术的一个方式的基片处理装置是能够使用超临界状态的处理流体对基片进行处理的装置,所述基片处理装置包括:处理容器,其具有所述基片的送入送出口,在内部形成能够利用所述处理流体对所述基片进行处理的处理空间;盖体,其用于将所述送入送出口开闭;内侧密封部件,其以包围所述送入送出口的状态设置在所述处理容器与所述盖体之间;外侧密封部件,其在本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基片处理装置,其能够使用超临界状态的处理流体对基片进行处理,所述基片处理装置的特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的基片处理装置,其特征在于:

3.根据权利要求1所述的基片处理装置,其特征在于:

4.根据权利要求1所述的基片处理装置,其特征在于:

5.根据权利要求1所述的基片处理装置,其特征在于:

6.根据权利要求1所述的基片处理装置,其特征在于:

7.根据权利要求6所述的基片处理装置,其特征在于:

8.根据权利要求1至7中任一项所述的基片处理装置,其特征在于:

>9.根据权利要求1...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

1.一种基片处理装置,其能够使用超临界状态的处理流体对基片进行处理,所述基片处理装置的特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的基片处理装置,其特征在于:

3.根据权利要求1所述的基片处理装置,其特征在于:

4.根据权利要求1所述的基片处理装置,其特征在于:

5.根据权利要求1所述的基片处理装置,其特征在于:

6.根据权利要求1所述...

【专利技术属性】
技术研发人员:李承焕山之上友启广濑虎瑠网屋通隆江村智文
申请(专利权)人:东京毅力科创株式会社
类型:发明
国别省市:

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