【技术实现步骤摘要】
本申请涉及测试，特别是涉及一种芯片测试方法、装置、服务器、存储介质和程序产品。
技术介绍
1、智能芯片是一种专门为智能计算设计的芯片，旨在满足深度学习、机器学习等人工智能算法在模型训练和推理过程中的高算力需求。为了确保智能芯片的性能和可靠性，需要对智能芯片进行测试。
2、传统技术中，主要是通过用户依据测试用例设计规范，在测试平台web界面完成全流程测试操作。
3、然而，传统的智能芯片测试方法，存在测试效率较低的问题。
技术实现思路
1、基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够提高芯片测试效率的芯片测试方法、装置、服务器、存储介质和程序产品。
2、第一方面，本申请提供了一种芯片测试方法，所述方法包括：
3、通过可视化界面接收测试请求；所述测试请求中包括待测试芯片的型号信息和需求信息；
4、基于所述型号信息、所述需求信息和预设知识库，确定对所述待测试芯片进行测试的提示词；所述预设知识库中至少包括不同类型芯片进行测试时调用的应用程序
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1.一种芯片测试方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述型号信息、所述需求信息和预设知识库，确定对所述待测试芯片进行测试的提示词，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述型号信息和所述需求信息，从所述预设知识库中提取结构化知识信息，包括：
4.根据权利要求1至3任一项所述的方法，其特征在于，所述基于所述提示词和大模型，对所述待测试芯片进行测试，得到测试结果，包括：
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述采用所述测试代码对所述待测试芯片进行测试，...
【技术特征摘要】
1.一种芯片测试方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述型号信息、所述需求信息和预设知识库，确定对所述待测试芯片进行测试的提示词，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述型号信息和所述需求信息，从所述预设知识库中提取结构化知识信息，包括：
4.根据权利要求1至3任一项所述的方法，其特征在于，所述基于所述提示词和大模型，对所述待测试芯片进行测试，得到测试结果，包括：
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述采用所述测试代码对所述待测试芯片进行测试，得到所述测试结果，...
【专利技术属性】
技术研发人员：简晟，任佳伟，高翔，陆钢，
申请(专利权)人：中国电信股份有限公司技术创新中心，
类型：发明
国别省市：
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