存储装置、其操作方法和其测试方法制造方法及图纸

技术编号:46624713 阅读:0 留言:0更新日期:2025-10-14 21:20
公开了一种存储装置、一种操作存储装置的方法和一种测试测试板上的多个存储装置的方法。该存储装置包括:存储器装置;至少一个非易失性存储器装置;控制器,其控制存储器装置和至少一个非易失性存储器装置;以及电力管理芯片,其供应与存储器装置、至少一个非易失性存储器装置和控制器对应的电力,其中,电力管理芯片包括存储硬件设定数据的多次可编程(MTP)存储器,并且存储装置被配置为在执行存储装置的通电操作之后使用硬件设定数据对其执行初始化操作。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术构思涉及具有多次可编程存储器的存储装置和操作该存储装置的方法。


技术介绍

1、通常,用于ssd(固态驱动器)应用中的pmic(电力管理集成电路)可以包括至少一个降压转换器、限流电路、内务处理块、电压电平检测器、片上电压调节器、高频振荡器、por(通电复位)、参考电平检测器和esd(静电放电)保护电路。pmic可以用于生成用于所有其它块的参考电压和偏置电压。每个降压转换器的输出电压可以使用i2c(集成电路间)接口来执行诸如dvs(动态电压缩放)、强制放电模式、pg(电力良好)特征和断电能力的功能。另外,pmic可以包括默认电压设定模式以支持在通电期间改变每个输出的默认电压。


技术实现思路

1、本专利技术构思的一方面提供一种存储装置和一种操作该存储装置的方法,该存储装置在初始化操作期间减少电力管理芯片的硬件设置时间段。

2、本专利技术构思的一方面提供一种存储装置和一种操作该存储装置的方法,该存储装置简单地改变用于每个产品的电力管理芯片的硬件设定。

3、根据本专利技术构思的一方面,本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种存储装置,包括:

2.根据权利要求1所述的存储装置,其中,所述多次可编程存储器被配置为在所述存储装置的制造阶段中的测试操作期间存储所述硬件设定数据。

3.根据权利要求1所述的存储装置,其中,所述存储装置被配置为响应于来自外部装置的低电力模式请求而使用所述硬件设定数据对其执行低电力模式设定操作。

4.根据权利要求1所述的存储装置,其中,所述存储装置被配置为使用所述硬件设定数据来改变目标电压、欠压锁定电平和通电/断电场景中的至少一个。

5.根据权利要求1所述的存储装置,其中,所述硬件设定数据包括目标电压、欠压锁定电压、断电延迟时间、低电...

【技术特征摘要】

1.一种存储装置,包括:

2.根据权利要求1所述的存储装置,其中,所述多次可编程存储器被配置为在所述存储装置的制造阶段中的测试操作期间存储所述硬件设定数据。

3.根据权利要求1所述的存储装置,其中,所述存储装置被配置为响应于来自外部装置的低电力模式请求而使用所述硬件设定数据对其执行低电力模式设定操作。

4.根据权利要求1所述的存储装置,其中,所述存储装置被配置为使用所述硬件设定数据来改变目标电压、欠压锁定电平和通电/断电场景中的至少一个。

5.根据权利要求1所述的存储装置,其中,所述硬件设定数据包括目标电压、欠压锁定电压、断电延迟时间、低电力模式场景、强制放电值、脉冲宽度调制/强制脉冲宽度调制模式或软关断电阻器延迟时间。

6.根据权利要求1所述的存储装置,其中,所述电力管理芯片包括多次可编程只写引脚、时钟引脚和数据引脚。

7.根据权利要求6所述的存储装置,其中,所述时钟引脚和所述数据引脚被配置为分别传送和接收与集成电路间接口对应的时钟和数据。

8.根据权利要求1所述的存储装置,其中,所述电力管理芯片被配置为根据集成电路间通信在没有命令的情况下响应于电力控制信号来进入或退出低电力模式。

9.根据权利要求8所述的存储装置,

10.根据...

【专利技术属性】
技术研发人员:赵炳允
申请(专利权)人:三星电子株式会社
类型:发明
国别省市:

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