【技术实现步骤摘要】
本说明书涉及闪烁晶体余辉性能测量，特别涉及一种闪烁晶体余辉时间测量系统与方法。
技术介绍
1、闪烁晶体在成像探测器中扮演着关键角色，其性能直接影响ct、pet/ct等辐射成像设备成像的质量、效率和灵敏度。近年来，随着健康和安全意识的提高，对更高光输出的闪烁晶体材料的需求不断增长。
2、闪烁晶体的总体衰减时间对辐射成像探测器的性能有显著的影响。不同的闪烁晶体材料、闪烁晶体材料含有不同微量杂质或采用不同处理工艺，都可能导致闪烁晶体具有截然不同的余辉特性。在辐射成像领域，通常期望闪烁晶体余辉尽可能小。因此，在闪烁晶体材料的研发、闪烁晶体质量控制和闪烁晶体探测器设计等方面，闪烁晶体余辉的检测是一个至关重要的环节。目前的余辉测试工具通用性不佳，测量不准确，且测试成本高。
3、因此，需要一种通用性好、测量精度高的闪烁晶体余辉时间测量系统与方法。
技术实现思路
1、本说明书一个或多个实施例提供一种闪烁晶体余辉时间测量系统，包括放射源、第一探测模块、第二探测模块和分析模块；所述放射...
【技术保护点】
1.一种闪烁晶体余辉时间测量系统，其特征在于，包括放射源、第一探测模块、第二探测模块和分析模块；
2.根据权利要求1所述的闪烁晶体余辉时间测量系统，其特征在于，所述第一探测模块包括依次连接的第一闪烁探测器、第一放大器和第一恒比定时甄别器；
3.根据权利要求2所述的闪烁晶体余辉时间测量系统，其特征在于，所述第二闪烁探测器与所述闪烁晶体样品之间设置有滤光装置。
4.根据权利要求1所述的闪烁晶体余辉时间测量系统，其特征在于，还包括测试模块，所述测试模块分别对所述第一探测模块接收的光子和所述第二探测模块接收的光子进行计数，以调整所述第一探测...
【技术特征摘要】
1.一种闪烁晶体余辉时间测量系统，其特征在于，包括放射源、第一探测模块、第二探测模块和分析模块；
2.根据权利要求1所述的闪烁晶体余辉时间测量系统，其特征在于，所述第一探测模块包括依次连接的第一闪烁探测器、第一放大器和第一恒比定时甄别器；
3.根据权利要求2所述的闪烁晶体余辉时间测量系统，其特征在于，所述第二闪烁探测器与所述闪烁晶体样品之间设置有滤光装置。
4.根据权利要求1所述的闪烁晶体余辉时间测量系统，其特征在于，还包括测试模块，所述测试模块分别对所述第一探测模块接收的光子和所述第二探测模块接收的光子进行计数，以调整所述第一探测模块单位时间内接收到的光子量与所述第二探测模块单位时间内接收到的光子量之间的比例。
<...【专利技术属性】
技术研发人员：王宇，郭洪生，
申请(专利权)人：眉山博雅新材料股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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