【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及光传感器。
技术介绍
1、存在利用光的反射来检测工件的缺件等的光传感器。当工件具有凹部、贯通孔时,光的反射率局部地变化。例如,在工件是排列在托盘上的瓶的情况下,在相邻的瓶与瓶之间产生深谷状的间隙。若将照射激光的光斑(spot)的尺寸扩大得比工件的凹部大,则即使是这样的工件也能够稳定地检测。在专利文献1中公开了能够在激光二极管与投光准直器之间配置变更光路长度的平板来变更光斑的尺寸的技术。
2、现有技术文献
3、专利文献
4、专利文献1:日本特开2015-78946号公报
技术实现思路
1、专利技术要解决的课题
2、从激光二极管等光源照射的光成为光斑的中央部明亮而周缘部暗的高斯型的光强度分布。如专利文献1所记载的技术那样,仅单纯地扩大光斑,维持高斯光束。若扩大光斑的尺寸,则整体变暗,因此在比中央部暗的周缘部处,在扩大光斑的尺寸的情况下,有时无法获得工件的检测所需的光强度。若光强度不足,则有可能无法准确地检测工件的有无。
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【技术保护点】
1.一种光传感器,其是具有发出高斯光束的光源和至少一个分布变更元件的距离设定型的光传感器,其中,
2.根据权利要求1所述的光传感器,其中,
3.根据权利要求1所述的光传感器,其中,
4.根据权利要求1所述的光传感器,其中,
5.根据权利要求1所述的光传感器,其中,
6.根据权利要求1所述的光传感器,其中,
7.根据权利要求1所述的光传感器,其中,
8.根据权利要求1所述的光传感器,其中,
9.根据权利要求1所述的光传感器,其中,
10.根据权利要求9所述的光传感器,其中,
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
1.一种光传感器,其是具有发出高斯光束的光源和至少一个分布变更元件的距离设定型的光传感器,其中,
2.根据权利要求1所述的光传感器,其中,
3.根据权利要求1所述的光传感器,其中,
4.根据权利要求1所述的光传感器,其中,
5.根据权利要求1所...
【专利技术属性】
技术研发人员:高市克志,中村润平,都筑良介,
申请(专利权)人:欧姆龙株式会社,
类型:发明
国别省市:
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