一种罐体内部缺陷检测方法及系统技术方案

技术编号:46591279 阅读:1 留言:0更新日期:2025-10-10 21:25
本发明专利技术涉及缺陷检测技术领域,具体涉及一种罐体内部缺陷检测方法及系统,本发明专利技术通过分析检测光谱与基线光谱的差异性,精准量化检测光谱上每个波长处的偏离度;进而通过检测点与其他检测点的检测光谱之间的差异性,深入分析检测光谱的群体离散性;再根据检测光谱中任意波段与其他波段之间的差异性,细致评估检测光谱中每个波段的异常程度;并结合两个相邻检测点的检测光谱中存在交集的波段对的相关性,充分考虑波段对的异常重合程度;最终,识别出若干个目标波长段,结合在目标波长段内的纵向的表现特异情况,并分析其敏感程度,从而能够快速、精准地定位罐体内部缺陷,显著提升检测效率与可靠性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及缺陷检测,具体涉及一种罐体内部缺陷检测方法及系统


技术介绍

1、在工业生产中,罐体作为储存和运输液体、气体等介质的关键容器,其结构完整性与安全性直接关系到产品质量和公共安全。可能出现的罐体内壁发生腐蚀、介质残留等情况,引发罐体内部的材质成分异常,这些隐患在传统目视检测或抽样破坏性测试中极易被遗漏,成为威胁罐体密封性和耐久性的潜在风险。

2、在此背景下,基于光谱分析的检测技术通过实时获取罐体内部区域的若干个检测点的光谱曲线——即物质对不同波长光的反射率、吸收率及透射率的连续响应特征,能够非接触式、高精度地表征材料成分分布、缺陷形态及污染物残留,从而实现对微小缺陷的全覆盖筛查与定量化评估。

3、光谱技术通过分析物质对不同波长光的吸收、反射或发射特性,可以识别材料内部的缺陷或异常。在现有技术中,依据现有已知缺陷对应特定的波长,反映罐体的不同缺陷情况。然而检测光谱中包含整体光谱特征且影响因素多样,直接分析固定检测波长的光谱曲线,忽略捕捉波长间的关联性,难以对缺陷做出准确分析;并且在检测点的检测光谱中,可能发生两个检测点的检测本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种罐体内部缺陷检测方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的罐体内部缺陷检测方法,其特征在于,分析所述检测光谱与所述基线光谱的差异性,得到所述检测光谱上每个波长处的偏离度,包括:

3.根据权利要求1所述的罐体内部缺陷检测方法,其特征在于,分析所述检测点与其他检测点的检测光谱之间的差异性,得到所述检测点的检测光谱的群体离散性,包括:

4.根据权利要求1所述的罐体内部缺陷检测方法,其特征在于,分析所述检测光谱中任意波段与其他波段之间的差异性,得到所述检测光谱中每个波段的异常程度,包括:

5.根据权利要求4所述的罐体内部缺陷...

【技术特征摘要】

1.一种罐体内部缺陷检测方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的罐体内部缺陷检测方法,其特征在于,分析所述检测光谱与所述基线光谱的差异性,得到所述检测光谱上每个波长处的偏离度,包括:

3.根据权利要求1所述的罐体内部缺陷检测方法,其特征在于,分析所述检测点与其他检测点的检测光谱之间的差异性,得到所述检测点的检测光谱的群体离散性,包括:

4.根据权利要求1所述的罐体内部缺陷检测方法,其特征在于,分析所述检测光谱中任意波段与其他波段之间的差异性,得到所述检测光谱中每个波段的异常程度,包括:

5.根据权利要求4所述的罐体内部缺陷检测方法,其特征在于,根据所述检测光谱中的波段宽度以及波段曲率,得到所述波段的主导性,包括:

<...

【专利技术属性】
技术研发人员:尧东升李永辉
申请(专利权)人:广东聚伟制罐有限公司
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1