【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及薄膜质检，具体为一种全自动高分子薄膜质检设备及其使用方法。
技术介绍
1、薄膜生产后需要进行质检，一些薄膜中容易出现孔洞缺陷，需要利用漏光检测原理来检验薄膜质量，薄膜孔洞小的情况下，漏光检测容易出现漏检小孔洞的情况。
2、现有的薄膜质检设备存在的缺陷是：
3、1、现有技术kr100701602b1公开了薄膜缺陷检测器，该技术不具有增加薄膜缺陷面积的功能，薄膜中存在孔洞时，孔洞过小容易造成漏检，因此需要一种可以增加缺陷面积的全自动高分子薄膜质检设备来解决该问题。
4、2、现有技术us5936254a公开了薄膜检测方法及装置，该技术在对薄膜照射光进行漏光检测时，如果将薄膜直接铺设在发光面板上容易早饭发光面板上灰尘，影响对薄膜的检测准确性，因此需要一种可以避免薄膜接触发光面板被污染的全自动高分子薄膜质检设备来解决该问题。
5、3、现有技术jp2012080001a公开了多晶硅薄膜检测方法及检测装置，该技术当利用发光面板对薄膜照射时，如果发光面板上存在杂质容易造成发光面板对薄膜的光照...
【技术保护点】
1.一种全自动高分子薄膜质检设备，其特征在于：包括框体一（1）、板体一（3）和板体二（5），所述框体一（1）的背面对称安装有板体一（3），所述板体一（3）的顶部安装有控制器部件（4），所述框体一（1）的顶部贯穿安装有发光板（2），且发光板（2）与控制器部件（4）电信号连接，所述框体一（1）的两侧对称安装有板体二（5），所述板体二（5）的顶部对称安装有液压缸部件一（7），且液压缸部件一（7）与控制器部件（4）电信号连接，所述液压缸部件一（7）的输出端安装有拉力传感器部件（8），且拉力传感器部件（8）与控制器部件（4）电信号连接，所述拉力传感器部件（8）的一侧输入端安装有...
【技术特征摘要】
1.一种全自动高分子薄膜质检设备，其特征在于：包括框体一（1）、板体一（3）和板体二（5），所述框体一（1）的背面对称安装有板体一（3），所述板体一（3）的顶部安装有控制器部件（4），所述框体一（1）的顶部贯穿安装有发光板（2），且发光板（2）与控制器部件（4）电信号连接，所述框体一（1）的两侧对称安装有板体二（5），所述板体二（5）的顶部对称安装有液压缸部件一（7），且液压缸部件一（7）与控制器部件（4）电信号连接，所述液压缸部件一（7）的输出端安装有拉力传感器部件（8），且拉力传感器部件（8）与控制器部件（4）电信号连接，所述拉力传感器部件（8）的一侧输入端安装有框体二（9），所述框体二（9）的一侧安装有板体三（10），所述板体三（10）的顶部设置有压膜机构；
2.根据权利要求1所述的一种全自动高分子薄膜质检设备，其特征在于：所述压膜机构包括支撑杆一（11）、电动伸缩杆部件一（12）、直角板一（13）、电动伸缩杆部件二（14）和压板（15），支撑杆一（11）安装在板体三（10）的顶部，两个电动伸缩杆部件一（12）对称安装在板体三（10）的顶部，电动伸缩杆部件一（12）与控制器部件（4）电信号连接，电动伸缩杆部件一（12）的输出端安装有直角板一（13），直角板一（13）的顶部安装有电动伸缩杆部件二（14），且电动伸缩杆部件二（14）与控制器部件（4）电信号连接，电动伸缩杆部件二（14）的输出端安装有压板（15）。
3.根据权利要求2所述的一种全自动高分子薄膜质检设备，其特征在于：所述板体二（5）的顶部安装有激光测距仪部件一（6），激光测距仪部件一（6）与控制器部件（4）电信号连接，板体三（10）的顶部安装有反射板（16），且反射板（16）位于激光测距仪部件一（6）的一侧。
4.根据权利要求1所述的一种全自动高分子薄膜质检设备，其特征在于：所述框体一（1）的正面安装有板体四（17），板体四（17）的顶部安装有激光测距仪部件二（18），激光测距仪部件二（18）与控制器部件（4）电信号连接，板体四（17）的顶部对称安...
【专利技术属性】
技术研发人员：王奕，郭晓亮，刘金龙，田冬梅，曹振，
申请(专利权)人：南通苍峰新材料科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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