【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及精密测量，尤其涉及一种基于频闪能谱的多光点抗干挠变形测量装置及方法。
技术介绍
1、变形测量装置即位移传感器，是一种关键的测量工具，广泛用于检测物体的位置、位移和运动量，在现代工业、科学研究以及日常生活中发挥着不可或缺的作用。其广泛应用源于对位置和位移信息的强烈需求，这些信息在工业自动化、精密制造、结构健康监测等领域具有重要价值。随着各行业对测量精度、响应速度、可靠性以及环境适应性的要求不断提升，位移传感器技术得到了快速发展，并在现代科技与工业中占据了举足轻重的地位。
2、目前，位移传感器种类繁多，常见的类型包括应变式、电感式、差动变压器式、光栅式、电容光栅式、激光式和光纤式传感器等。这些传感器通常以直接接触物体表面为前提，通过记录起始位置与最终位置的位移差值来实现测量。然而，这类位移传感器在实际应用中仍存在显著缺陷:1、测量方向单一；2、环境适应性受限；3、动态响应能力不足；4、安装和使用限制。同时现有技术在光照复杂或环境变化频繁时，光标点的检测变得困难，导致测量准确性下降，这些缺陷限制了位移传感器在复杂、多...
【技术保护点】
1.一种基于频闪能谱的多光点抗干挠变形测量装置，包括点光源，其特征在于，所述点光源的下方设置有柱面镜一，所述柱面镜一的下方设置有线阵传感器一，所述线阵传感器一电性连接有数据采集装置，所述点光源发出的光线经过柱面镜一后被聚焦为一条线段成像在线阵传感器一上，所述线阵传感器一将聚焦线段的光信号转换为数字信号输出给数据采集装置，所述数据采集装置根据聚焦线段在线阵传感器一上数字信号确定聚焦线段在线阵传感器一上的位置，并在不同时刻计算出聚焦线段的位置变化,该位置的变化与点光源在线阵传感器一方向上的位移一一对应，进一步地根据成像关系计算出点光源在线阵传感器一方向上的位移。
<...【技术特征摘要】
1.一种基于频闪能谱的多光点抗干挠变形测量装置，包括点光源，其特征在于，所述点光源的下方设置有柱面镜一，所述柱面镜一的下方设置有线阵传感器一，所述线阵传感器一电性连接有数据采集装置，所述点光源发出的光线经过柱面镜一后被聚焦为一条线段成像在线阵传感器一上，所述线阵传感器一将聚焦线段的光信号转换为数字信号输出给数据采集装置，所述数据采集装置根据聚焦线段在线阵传感器一上数字信号确定聚焦线段在线阵传感器一上的位置，并在不同时刻计算出聚焦线段的位置变化,该位置的变化与点光源在线阵传感器一方向上的位移一一对应，进一步地根据成像关系计算出点光源在线阵传感器一方向上的位移。
2.根据权利要求1所述的一种基于频闪能谱的多光点抗干挠变形测量装置，其特征在于，还包括分光棱镜一，所述分光棱镜一位于点光源与柱面镜一之间，所述分光棱镜一的一侧设置有柱面镜二，所述柱面镜二的另一侧设置有线阵传感器二，所述线阵传感器二与数据采集装置电性连接，所述柱面镜一、线阵传感器一、分光棱镜一、柱面镜二、线阵传感器二构成二维位移传感器。
3.根据权利要求2所述的一种基于频闪能谱的多光点抗干挠变形测量装置，其特征在于，所述柱面镜一为垂直光线照射方向水平放置的柱面镜，柱面镜一在垂直方向有曲率水平方向无曲率；
4.根据权利要求3所述的一种基于频闪能谱的多光点抗干挠变形测量装置，其特征在于，所述线阵传感器一为线阵ccd或线阵cmos或线阵光子计数传感器...
【专利技术属性】
技术研发人员：何小元，徐莹隽，戴鹏，
申请(专利权)人：南京博迈威机电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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