一种声表面波器件调试测试架制造技术

技术编号:46585612 阅读:1 留言:0更新日期:2025-10-10 21:22
本发明专利技术涉及测试架技术领域,且公开了一种声表面波器件调试测试架,包括测试架本体,所述测试架本体表面安装有顶盖,所述顶盖底面中部固定连接有引风环,所述引风环中部固定连接有风扇,所述顶盖表面中部开设有与风扇位置对应的多个排风孔,所述顶盖表面两侧开设有多个进风孔。该种声表面波器件调试测试架,通过在测试架本体表面加装顶盖,并在顶盖底面中部设置引风环与风扇,构建出主动风冷散热系统,利用该种主动风冷散热系统,可快速降低高功率测试过程中器件的温度,避免局部过热导致的性能漂移,使测试结果更接近实际工况下的真实性能。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及测试架,具体为一种声表面波器件调试测试架


技术介绍

1、声表面波器件利用声-电换能器的特征对压电材料基片表面上传播的声信号进行各种处理,并完成各种功能的固体器件。其利用半导体平面工艺在压电材料基片表面制作出叉指状的金属电极(称作叉指换能器idt),电极接上交变电压即可在基片表面激发出声表面波(saw),电信号可借此声表面波传递。声表面波器件的测试是其研发、生产及应用过程中不可或缺的环节。

2、如现有技术中,专利授权公告号为cn203825116u的专利,公开了一种声表面波器件调试测试架,包括调试电路板,金属底架和射频转换头,调试电路板固定在金属底架上,射频转换头安装在金属底架两端;所述调试电路板由高频双面敷铜基板制成,其正面中部区域为待测器件插座,两侧区域为调试电路,背面为与金属底架接触相连的大面积接地敷铜面。上述装置在高频基板上集成制作调试测试声表面波器件所用的待测器件插座和调试电路,将调试电路板固定在金属底架上,使地电极与金属底座实现有效电气相接,并通过射频转换头使调试电路板与测试仪器电气相连,整个装置结构紧凑、射频损耗小,本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种声表面波器件调试测试架,包括测试架本体(1),其特征在于,所述测试架本体(1)表面安装有顶盖(2),所述顶盖(2)底面中部固定连接有引风环(3),所述引风环(3)中部固定连接有风扇(4),所述顶盖(2)表面中部开设有与风扇(4)位置对应的多个排风孔(6),所述顶盖(2)表面两侧开设有多个进风孔(7),所述顶盖(2)一侧固定连接有两个对称设置的转动块(8),所述测试架本体(1)表面一侧安装有连接板(9),所述连接板(9)表面开设有与两个转动块(8)位置对应的转动槽(10),所述转动槽(10)内固定连接有转轴(11),所述转动块(8)与转轴(11)转动连接,所述连接板(9)底面固定连...

【技术特征摘要】

1.一种声表面波器件调试测试架,包括测试架本体(1),其特征在于,所述测试架本体(1)表面安装有顶盖(2),所述顶盖(2)底面中部固定连接有引风环(3),所述引风环(3)中部固定连接有风扇(4),所述顶盖(2)表面中部开设有与风扇(4)位置对应的多个排风孔(6),所述顶盖(2)表面两侧开设有多个进风孔(7),所述顶盖(2)一侧固定连接有两个对称设置的转动块(8),所述测试架本体(1)表面一侧安装有连接板(9),所述连接板(9)表面开设有与两个转动块(8)位置对应的转动槽(10),所述转动槽(10)内固定连接有转轴(11),所述转动块(8)与转轴(11)转动连接,所述连接板(9)底面固定连接有插块(12),所述测试架本体(1)表面开设有与插块(12)位置对应的安装槽(13),所述安装槽(13)内固定连接有两个导电插杆(14),所述插块(12)底面开设有与导电插杆(14)位置对应的插槽(15),所述风扇(4)通过导电插杆(14)与测试架本体(1)电性连接。

2.根据权利要求1所述的一种声表面波器件调试测试架,其特征在于,所述插块(12)侧壁开设有定位孔(16),所述测试架本体(1)背侧开设有与定位孔(16)位置对应的滑动槽(17),所述滑动槽(17)内滑动连接有定位杆(18)。

3.根据权利要求2所述的一种声表面波器件调试测试架,其特征在于,所述测试架本体(1)背...

【专利技术属性】
技术研发人员:安明珠
申请(专利权)人:北京中科飞鸿科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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