【技术实现步骤摘要】
本申请涉及散热，尤其涉及老化架分配、老化测试中流量控制方法及系统。
技术介绍
1、随着数据中心计算密度与功率密度的指数级增长，传统风冷散热方案已难以满足高性能电子设备（尤其是人工智能服务器）的散热需求。液冷散热技术凭借其卓越的热传导效率、超低噪音特性以及40%以上的电能使用效率优化潜力，成为破解散热瓶颈的核心技术路线。其中，冷板式液冷因兼具直接接触高效导热与非侵入式改造优势，占据当前商业化应用的主流地位。
2、在液冷设备出厂前，必须进行严格的老化测试（burn-in test）。老化测试占用大量的厂房空间、电力、冷却资源，且时间较长，如何对老化测试位置进行高效、合理地进行分配，直接影响老化产能和设备利用率。
技术实现思路
1、本申请提供了老化架分配、老化测试中流量控制方法及系统，以至少解决相关技术中无法对老化测试位置进行合理分配的问题。
2、本申请提供了一种老化架分配方法，该方法包括：
3、获取与待测试电子设备对应的分配请求；
4、对分配请求...
【技术保护点】
1.一种老化架分配方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述冷板属性信息，调用预构建的老化架资源数据库的实时布局数据，筛选至少一个用以承载所述待测试电子设备的候选老化架位置，具体包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述位置约束条件包括所述待测试电子设备分别在至少一个测试项中的历史用电功率；所述根据所述位置约束条件，从至少一个所述候选老化架位置中，选取目标老化架位置，用以完成所述待测试电子设备的老化架，具体包括：
4.根据权利要求1-3任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还
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【技术特征摘要】
1.一种老化架分配方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述冷板属性信息，调用预构建的老化架资源数据库的实时布局数据，筛选至少一个用以承载所述待测试电子设备的候选老化架位置，具体包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述位置约束条件包括所述待测试电子设备分别在至少一个测试项中的历史用电功率；所述根据所述位置约束条件，从至少一个所述候选老化架位置中，选取目标老化架位置，用以完成所述待测试电子设备的老化架，具体包括：
4.根据权利要求1-3任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所...
【专利技术属性】
技术研发人员：卢宏玉，孔亮，
申请(专利权)人：苏州元脑智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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