【技术实现步骤摘要】
本公开涉及电路板测试设备，更准确地说，本公开涉及一种确定电路板阻抗测试点的方法、标注阻抗属性的方法及筛选阻抗测试点的方法。
技术介绍
1、在电路板设计及制造领域，阻抗控制是高速电路和高频电路设计的关键需求。传统阻抗测试点提取方法依赖工程师人工筛选阻抗线并手动标注测试点，记录测试点图片、阻抗数据等信息并保存到文件中，效率低，耗时长。尤其在高密度电路板设计中，传输线路和pad小且密，人眼难以分辨，人工手动选取测试点易受主观因素影响，不仅效率低，且测试点位置不合理，难以覆盖复杂叠层结构和渐变阻抗区域（如蛇形线），还一致性差，不同工程师选择结果有差异。因此急需提出一种高效率的、自动的确定测试点的方法。
技术实现思路
1、本公开为了解决现有技术中存在的问题，提供了一种确定电路板阻抗测试点的方法、标注阻抗属性的方法及筛选阻抗测试点的方法，以解决现有技术中的上述技术问题。
2、根据本公开的第一方面，提供了一种确定电路板阻抗测试点的方法，包括：获取电路板的阻抗线，根据预设的属性参数，在所述阻抗...
【技术保护点】
1.一种确定电路板阻抗测试点的方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述确定电路板阻抗测试点的方法，其特征在于，所述在所述阻抗线上标注所述属性参数包括，获取阻抗信息表，所述阻抗信息表至少包括：所述阻抗线的物理参数、阻抗类型、阻抗值、工作层、参考层、阻抗公差。
3.根据权利要求2所述确定电路板阻抗测试点的方法，其特征在于，预设所述阻抗线的属性参数，所述属性参数关联所述阻抗信息表。
4.根据权利要求3所述的确定电路板阻抗测试点的方法，其特征在于，根据所述物理参数，筛选出对象阻抗线，将所述属性参数标注到所述对象阻抗线。
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【技术特征摘要】
1.一种确定电路板阻抗测试点的方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述确定电路板阻抗测试点的方法，其特征在于，所述在所述阻抗线上标注所述属性参数包括，获取阻抗信息表，所述阻抗信息表至少包括：所述阻抗线的物理参数、阻抗类型、阻抗值、工作层、参考层、阻抗公差。
3.根据权利要求2所述确定电路板阻抗测试点的方法，其特征在于，预设所述阻抗线的属性参数，所述属性参数关联所述阻抗信息表。
4.根据权利要求3所述的确定电路板阻抗测试点的方法，其特征在于，根据所述物理参数，筛选出对象阻抗线，将所述属性参数标注到所述对象阻抗线。
5.根据权利要求2至3任一项所述确定电路板阻抗测试点的方法，其特征在于，所述解析所述阻抗线的所述属性参数包括，基于所述物理参数或所述属性参数，筛选出对象阻抗线，将所述对象阻抗线分类成单端阻抗线和差分阻抗线。
6.根据权利要求5所述的确定电路板阻抗测试点的方法，其特征在于，基于所述对象阻抗线的物理参数，筛选所述单端阻抗线和所述差分阻抗线。
7.根据权利要求6所述确定电路板阻抗测试点的方法，其特征在于，基于所述差分阻抗线的物理参数，将两根所述差分阻抗线...
【专利技术属性】
技术研发人员：祝施琼，叶宗顺，李英正，董付勋，肖多金，
申请(专利权)人：苏州维嘉科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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