一种双标样多谱线校正的LIBS定量准确度提升方法技术

技术编号:46572077 阅读:0 留言:0更新日期:2025-10-10 21:17
本发明专利技术公开了一种双标样多谱线校正的LIBS定量准确度提升方法,包括:获取待测样品和两个标准样品的LIBS光谱数据;从LIBS光谱数据中获取待测样品和两个标准样品的待测元素的多条特征谱线数据;根据特征谱线数据计算第二标准样品的谱线强度校正因子;根据第二标准样品的谱线强度校正因子计算待测样品的特征谱线理论强度;根据第一标准样品的实际谱线强度和待测样品的特征谱线理论强度建立校正曲线;根据校正曲线计算待测样品的待测元素含量。本发明专利技术通过采用双标样多谱线校正算法,可以显著提高单点多谱线校正方法定量分析的准确度,同时弥补了免定标激光诱导击穿光谱算法计算过程繁琐的缺点。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及元素定量分析领域,特别涉及一种双标样多谱线校正的libs定量准确度提升方法。


技术介绍

1、激光诱导击穿光谱(libs)技术是近年来发展的一种新型光谱分析技术,该技术主要通过高能脉冲激光聚焦于待测样品表面,样品表面局部材料瞬间烧蚀并被熔化、汽化和电离,随后产生瞬态等离子体,并向外辐射一定波长的特征光谱,根据这些光谱的特征波长、强度等信息来对样品中元素种类进行鉴别和含量进行预测。由于其具有快速、原位、远距离分析等优势,被广泛应用于航空航天、冶金分析、深空探测等领域。随着科学技术的进步,libs技术的研究更加深入,但仍未完全成熟,基体效应、光谱不稳定性、检测环境等因素是导致定量准确度受限的主要原因,严重阻碍了这种新兴检测技术的发展。因此,研究一种提升libs定量准确度的方法是十分有意义的。

2、免定标激光诱导击穿光谱(cf-libs)技术无需标准样品,通过一定理论计算便求取待测样品中元素含量,避免了对标准样品的依赖,被广泛应用于考古探测、合金分析和深空探测等领域,并在这些领域中展现出巨大潜力。近年来,cf-libs技术通过发展,演变出本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种双标样多谱线校正的LIBS定量准确度提升方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的一种双标样多谱线校正的LIBS定量准确度提升方法,其特征在于,所述获取待测样品和两个标准样品的LIBS光谱数据包括:

3.根据权利要求1所述的一种双标样多谱线校正的LIBS定量准确度提升方法,其特征在于,所述获取待测样品和两个标准样品的LIBS光谱数据包括;

4.根据权利要求1所述的一种双标样多谱线校正的LIBS定量准确度提升方法,其特征在于,从所述LIBS光谱数据中获取所述待测样品和两个所述标准样品的待测元素的多条特征谱线数据包括:</p>

5.根据...

【技术特征摘要】

1.一种双标样多谱线校正的libs定量准确度提升方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的一种双标样多谱线校正的libs定量准确度提升方法,其特征在于,所述获取待测样品和两个标准样品的libs光谱数据包括:

3.根据权利要求1所述的一种双标样多谱线校正的libs定量准确度提升方法,其特征在于,所述获取待测样品和两个标准样品的libs光谱数据包括;

4.根据权利要求1所述的一种双标样多谱线校正的libs定量准确度...

【专利技术属性】
技术研发人员:罗明熊世磊崔敏超王渊彬马楠杨凯棋
申请(专利权)人:西北工业大学
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1