【技术实现步骤摘要】
本申请涉及功率器件检测，特别是涉及一种配件识别系统。
技术介绍
1、半导体测试领域，功率半导体器件的测试是半导体高端应用领域的重要测试环节。功率模块测试系统是专门用于评估和验证功率半导体器件（如igbt、mosfet等）及其集成模块的性能与可靠性的设备。该系统能够模拟实际工作条件，对功率半导体器件进行电气特性测试、热性能分析、寿命测试等，确保功率半导体器件能在特定的应用环境中稳定运行。
2、在功率模块测试系统对功率半导体器件进行测试时，对于不同类型的功率半导体器件，测试中所使用的配件也均不相同。为了能够在功率模块测试系统上对所有类型的功率半导体器件进行测试，就需要在测试时，针对不同的功率半导体器件更换不同的配件。目前的相关技术中，对于配件的识别，通常通过限位结构部件的卡控识别方法。该方法需要在配件上进行打孔、切割或是重新焊点。从而造成设计工序繁琐，配件适配性差，且无法实现快速准确的对配件进行识别。
技术实现思路
1、基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种配件识别系统。
...【技术保护点】
1.一种配件识别系统，其特征在于，所述配件识别系统应用于功率模块测试装置；所述功率模块测试装置用于对功率半导体器件进行测试；所述功率模块测试装置包括：承载底座、驱动控制组件、测试输入组件以及测试输出组件；
2.根据权利要求1所述的配件识别系统，其特征在于，
3.根据权利要求1所述的配件识别系统，其特征在于，
4.根据权利要求1所述的配件识别系统，其特征在于，
5.根据权利要求1所述的配件识别系统，其特征在于，
6.根据权利要求5所述的配件识别系统，其特征在于，
7.根据权利要求6所述的配件识别系统...
【技术特征摘要】
1.一种配件识别系统，其特征在于，所述配件识别系统应用于功率模块测试装置；所述功率模块测试装置用于对功率半导体器件进行测试；所述功率模块测试装置包括：承载底座、驱动控制组件、测试输入组件以及测试输出组件；
2.根据权利要求1所述的配件识别系统，其特征在于，
3.根据权利要求1所述的配件识别系统，其特征在于，
4.根据权利要求1所述的配件识别系统，其特征在于，
5.根据权利要求1所述的配件识别系统，其特征在于，
6.根...
【专利技术属性】
技术研发人员：任春茂，王伟群，谢亮，黄广龙，许楚贤，谢瑾，曾庆林，
申请(专利权)人：长川半导体深圳有限公司，
类型：发明
国别省市：
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