液晶型相位器件空间相位延迟量分布测量方法及相关装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及光场调制和光学信息处理技术领域，尤其涉及一种液晶型相位器件空间相位延迟量分布测量方法及相关装置。首先通过偏振成像相机获取液晶型相位器件调制后光场的Stokes矢量；然后根据液晶型相位器件调制后光场的Stokes矢量，获得液晶型相位器件调制后光场的偏振角和椭偏率角的空间分布；最后根据液晶型相位器件调制后光场的偏振角和椭偏率角的空间分布，获取液晶型相位器件空间相位延迟量分布。该测量方法及装置具有测量精度和测量效率高的特点，解决现有技术中存在的对液晶型相位器件的空间相位延迟量分布测量效率低、测量准确性差的问题。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光场调制和光学信息处理，具体为一种液晶型相位器件空间相位延迟量分布测量方法及相关装置。

技术介绍

1、作为偏振设备中的关键电光调制器件，液晶型相位器件由于其无旋转结构、调制速度快、口径大、质量轻、光谱范围宽、驱动电压低、相位延迟0~2连续可调等优势，被广泛应用在自适应光学、地面遥感、波前校正、波束整形以及干涉计量等
中。然而，受限于液晶材料的取向工艺误差、驱动电压分布不均匀性及封装应力等因素，器件靶面不同区域的相位延迟量及偏振响应特性存在空间非均匀性，导致其空间相位调制精度下降。因此，为实现高精度的电控相位调制，需对液晶型相位器件的空间相位延迟分布进行全域测量。

2、目前传统测量方法主要分为基于单点干涉测量或分时偏振态调制技术两类。基于单点干涉测量仅能通过干涉条纹解算器件中心点位的相位延迟量，若需获取液晶器件的空间相位延迟分布特性，必须借助高精度位移台对器件逐点扫描，导致测量耗时增长且扫描过程中易引入振动误差；而基于分时偏振态调制技术需测量被调制光的0°线偏振光强、45°线偏振光强、90°线偏振光强且需通过机械旋转波片或插入本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种液晶型相位器件空间相位延迟量分布测量方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的液晶型相位器件空间相位延迟量分布测量方法，其特征在于，所述获取液晶型相位器件调制后光场的Stokes矢量的方法为：

3.根据权利要求1所述的液晶型相位器件空间相位延迟量分布测量方法，其特征在于，所述根据液晶型相位器件调制后光场的Stokes矢量，获取液晶型相位器件调制后光场的空间分布的偏振角和椭偏率角的方法为：

4.根据权利要求1所述的液晶型相位器件空间相位延迟量分布测量方法，其特征在于，所述根据液晶型相位器件调制后光场的空间分布的偏振角和椭偏率角，获取液晶型...

【技术特征摘要】

1.一种液晶型相位器件空间相位延迟量分布测量方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的液晶型相位器件空间相位延迟量分布测量方法，其特征在于，所述获取液晶型相位器件调制后光场的stokes矢量的方法为：

3.根据权利要求1所述的液晶型相位器件空间相位延迟量分布测量方法，其特征在于，所述根据液晶型相位器件调制后光场的stokes矢量，获取液晶型相位器件调制后光场的空间分布的偏振角和椭偏率角的方法为：

4.根据权利要求1所述的液晶型相位器件空间相位延迟量分布测量方法，其特征在于，所述根据液晶型相位器件调制后光场的空间分布的偏振角和椭偏率角，获取液晶型相位器件空间相位延迟量分布的方法为：

5.一种液晶型相位器件空间相位延迟量分布测量系统，其特征在于，包括：

6.一种液晶型相位器件空间相位延迟量分布测量设备，其特...

【专利技术属性】
技术研发人员：任立勇，魏尚恒，王佩瑶，
申请(专利权)人：陕西师范大学，
类型：发明
国别省市：