一种通用型测试支架制造技术

本技术公开了一种通用型测试支架，包括工作台、活动板、校准支撑件以及驱动装置，所述工作台上设有第一限位孔，第一限位孔内设有第一卡位台阶，活动板通过校准支撑件升降式安装在工作台上，活动板上设有第二限位孔，第二限位孔内设有第二卡位台阶，第一限位孔和第二限位孔始终保持上下位置相对应，通过设置活动板可升降从而调节第一限位孔和第二限位孔之间的间距，使用时将治具放置在工作台上的第一限位孔内，第一卡位台阶将治具支撑在第一限位孔内，活动板下降，第二限位孔对应下降卡接在治具上方，完成对治具的位置固定即可进行下一步的检测操作，结构简单，可适应多种型号共用，避免专门为单个型号单独制作一整套测试架导致成本增加。

【技术实现步骤摘要】

本技术属于测试支架的，具体是涉及一种通用型测试支架。

技术介绍

1、现有的针板测试治具的类型多样，这就使得所对应的固定治具用的测试支架类型也各不相同，由于每种针板测试治具在尺寸、形状、结构等方面存在差异，传统的测试支架往往只能针对特定的一种或几种针板测试治具进行设计和使用，当面临多种不同类型的针板测试治具时，就需要配备多种相应的测试支架，这不仅增加了设备的采购成本，还占用了大量的存储空间。

技术实现思路

1、本技术目的在于针对上述问题，提供一种通用型测试支架，解决现有测试支架无法通用的技术问题。

2、本技术是通过以下技术方案实现的：一种通用型测试支架，包括工作台、活动板、校准支撑件以及驱动装置，所述工作台上设有第一限位孔，所述第一限位孔内设有第一卡位台阶，所述活动板通过校准支撑件升降式安装在工作台上，所述活动板上设有第二限位孔，所述第二限位孔内设有第二卡位台阶，所述第一限位孔和第二限位孔始终保持上下位置相对应。

3、优选的，所述第一限位孔和第二限位孔的形状为正方形，所述第一卡位台阶和第本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种通用型测试支架，其特征在于：包括工作台（1）、活动板（2）、校准支撑件（3）以及驱动装置，所述工作台（1）上设有第一限位孔（11），所述第一限位孔（11）内设有第一卡位台阶（12），所述活动板（2）通过校准支撑件（3）升降式安装在工作台（1）上，所述活动板（2）上设有第二限位孔（21），所述第二限位孔（21）内设有第二卡位台阶（22），所述第一限位孔（11）和第二限位孔（21）始终保持上下位置相对应。

2.根据权利要求1所述的一种通用型测试支架，其特征在于：所述第一限位孔（11）和第二限位孔（21）的形状为正方形，所述第一卡位台阶（12）和第二卡位台阶（22）分别从第...

【技术特征摘要】

1.一种通用型测试支架，其特征在于：包括工作台（1）、活动板（2）、校准支撑件（3）以及驱动装置，所述工作台（1）上设有第一限位孔（11），所述第一限位孔（11）内设有第一卡位台阶（12），所述活动板（2）通过校准支撑件（3）升降式安装在工作台（1）上，所述活动板（2）上设有第二限位孔（21），所述第二限位孔（21）内设有第二卡位台阶（22），所述第一限位孔（11）和第二限位孔（21）始终保持上下位置相对应。

2.根据权利要求1所述的一种通用型测试支架，其特征在于：所述第一限位孔（11）和第二限位孔（21）的形状为正方形，所述第一卡位台阶（12）和第二卡位台阶（22）分别从第一限位孔（11）和第二限位孔（21）的四个角向中心方向延伸。

3.根据权利要求2所述的一种通用型测试支架，其特征在于：所述第一卡位台阶（12）和第二卡位台阶（22）上均设有磁性件。

4.根据权利要求1所述的一种通用型测试支架，其特征在于：所述活动板（2）的两侧设有...

【专利技术属性】
技术研发人员：李鸿华，苏远明，
申请(专利权)人：东莞市吉塔科技创新有限公司，
类型：新型
国别省市：