一种电子产品老化测试设备制造技术

本技术属于老化测试设备技术领域，具体为一种电子产品老化测试设备，包括设备主体，所述设备主体的内侧设有测试仓，所述测试仓的内侧中部设有抽拉槽，所述抽拉槽的一端贯穿设备主体的侧壁，所述抽拉槽的一端外侧设有封堵槽，所述抽拉槽的内侧插接有置物组件，所述置物组件包括抽拉框、封堵板和U型挡板。本技术可将电子产品置入抽拉框的内侧，随后将抽拉框插接到抽拉槽的内侧，使得电子产品位于测试仓的内侧进行检测，等待高温测试结束后需要更换新产品进行测试时，操作人员将U型框板再度插接到抽拉框的内侧，实现对内侧电子产品的封堵，随后将整个抽拉框抽出，避免烫伤操作人员，操作安全性高，且不影响下个产品测试，测试效率高。

【技术实现步骤摘要】

本技术属于老化测试设备，具体涉及一种电子产品老化测试设备。

技术介绍

1、老化测试是一种测试产品稳定性的方法，可以通过测试其功能或让设备在超常规的特殊环境中运作来实现。老化试验包含：臭氧老化、紫外老化、氙灯老化、换气式热老化、高温老化、盐雾腐蚀老化等。

2、目前老化测试设备在进行电子产品的高温老化测试时，将电子产品投入设备内侧，通过控制软件控制热风机吹出高温使得电子产品处于高温环境下，在检测结束后将电子产品取出，更换新的产品进行检测时，电子产品外壁温度较高，容易烫伤操作人员，若等产品冷却后取出，会严重影响检测效率。

3、因此需要一种操作安全、检测效率高的电子产品老化测试设备。

技术实现思路

1、为解决现有技术中存在的上述问题，本技术提供了一种电子产品老化测试设备，具有操作安全、检测效率高的特点。

2、为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种电子产品老化测试设备，包括设备主体，所述设备主体的内侧设有测试仓，所述测试仓的内侧中部设有抽拉槽，所述抽拉槽的一端贯穿设备主体的侧壁本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种电子产品老化测试设备，包括设备主体（1），其特征在于：所述设备主体（1）的内侧设有测试仓（14），所述测试仓（14）的内侧中部设有抽拉槽（15），所述抽拉槽（15）的一端贯穿设备主体（1）的侧壁，所述抽拉槽（15）的一端外侧设有封堵槽（16），所述抽拉槽（15）的内侧插接有置物组件（2），所述置物组件（2）包括抽拉框（21）、封堵板（22）和U型挡板（23），所述抽拉框（21）插接在抽拉槽（15）的内侧，所述抽拉框（21）的一端磁性连接有封堵板（22），所述封堵板（22）磁性卡合在封堵槽（16）的内侧，所述封堵板（22）上插接有U型挡板（23），所述U型挡板（23）一端位于抽拉框...

【技术特征摘要】

1.一种电子产品老化测试设备，包括设备主体（1），其特征在于：所述设备主体（1）的内侧设有测试仓（14），所述测试仓（14）的内侧中部设有抽拉槽（15），所述抽拉槽（15）的一端贯穿设备主体（1）的侧壁，所述抽拉槽（15）的一端外侧设有封堵槽（16），所述抽拉槽（15）的内侧插接有置物组件（2），所述置物组件（2）包括抽拉框（21）、封堵板（22）和u型挡板（23），所述抽拉框（21）插接在抽拉槽（15）的内侧，所述抽拉框（21）的一端磁性连接有封堵板（22），所述封堵板（22）磁性卡合在封堵槽（16）的内侧，所述封堵板（22）上插接有u型挡板（23），所述u型挡板（23）一端位于抽拉框（21）的内侧。

2.根据权利要求1所述的一种电子产品老化测试设备，其特征在于：所述抽拉框（21）的两侧壁对称设有连接口（211），所述抽拉框（21）的内侧设有限位槽（212），所述u型挡板（23）的一端插接在限位槽（212）的内侧。

3.根据权利要求2所述的一种电子产品老化测试设备，其特征在于：所述封堵板（22）的侧壁上对称设有对接槽（222），所述对接槽（222）与限位槽...

【专利技术属性】
技术研发人员：邓刚，
申请(专利权)人：西安研鹏协创科技有限公司，
类型：新型
国别省市：