工业CT系统几何参数标定方法、装置、电子设备及介质制造方法及图纸

本申请涉及计算机视觉技术领域，尤其涉及一种工业CT系统几何参数标定方法、装置、电子设备及介质，通过获取待测物体的投影数据，建立世界坐标系、相机坐标系和图像坐标系，并完成世界坐标系到相机坐标系、相机坐标系到图像坐标系的转换，根据第一转换关系和第二转换关系构建投影矩阵，基于投影矩阵和的投影数据求解待测物体的几何参数。本申请避免了传统手动测量及模体标定中存在的误差大、操作复杂等问题，提高了工业CT系统几何参数标定的准确性与稳定性。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及计算机视觉，尤其涉及一种工业ct系统几何参数标定方法、装置、电子设备及介质。

技术介绍

1、工业ct（计算机断层扫描）系统在无损检测、逆向工程、材料科学等领域具有广泛应用，其成像质量直接依赖于系统几何参数的精确标定。传统的几何参数（如光管到探测器距离sdd、光管到旋转中心距离sid等）标定依赖于手动测量，人工操作易引入测量误差，导致参数值与真实值偏差较大，且参数误差会直接导致投影数据失真，影响重建图像的清晰度和分辨率。

2、另外，使用模体（如球阵列）标定几何参数时，通常需采集特定角度的投影图像，并通过建立视场（fov）的几何方程计算sod（源到物距）和sdd（源到探测器距离），需预设特定角度采集图像，操作复杂且易受角度误差影响，基于有限角度的方程求解可能陷入局部最优，导致参数结果偏差。

技术实现思路

1、为了克服现有技术的不足，本专利技术提供一种工业ct系统几何参数标定方法、装置、电子设备及介质，提高了参数标定的准确性。

2、本申请的第一方面提供一种工业ct系统几何参数标定方本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种工业CT系统几何参数标定方法，其特征在于，所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的工业CT系统几何参数标定方法，其特征在于，所述方法还包括：

3.根据权利要求2所述的工业CT系统几何参数标定方法，其特征在于，所述求解所述投影矩阵，得到所述几何参数包括：

4.根据权利要求3所述的工业CT系统几何参数标定方法，其特征在于，在所述对所述N组几何参数进行平均，得到最终标定的工业CT系统几何参数之前，所述方法还包括：

5.根据权利要求1所述的工业CT系统几何参数标定方法，其特征在于，所述将所述世界坐标系转换到所述相机坐标系包括：

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【技术特征摘要】

1.一种工业ct系统几何参数标定方法，其特征在于，所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的工业ct系统几何参数标定方法，其特征在于，所述方法还包括：

3.根据权利要求2所述的工业ct系统几何参数标定方法，其特征在于，所述求解所述投影矩阵，得到所述几何参数包括：

4.根据权利要求3所述的工业ct系统几何参数标定方法，其特征在于，在所述对所述n组几何参数进行平均，得到最终标定的工业ct系统几何参数之前，所述方法还包括：

5.根据权利要求1所述的工业ct系统几何参数标定方法，其特征在于，所述将所述世界坐标系转换到所述相机坐标系包括：

6.根据权利要求1所述的工业ct系统几何参数标定方法，其特征在于，所述将所述相机坐标系转换...

【专利技术属性】
技术研发人员：张铭，王浩，
申请(专利权)人：海目星激光智能装备江苏有限公司，
类型：发明
国别省市：