一种熔丝烧录质量的筛选电路、芯片筛选方法及芯片技术

技术编号:46460031 阅读:12 留言:0更新日期:2025-09-23 22:24
本发明专利技术涉及芯片筛选技术领域,公开了一种熔丝烧录质量的筛选电路、芯片筛选方法及芯片,包括:逻辑模块,用于基于时间轴逐次生成烧录时序信号,同时生成一个第一烧录使能信号以及一个锁定信号;参考电压模块,与供电电源和逻辑模块连接,用于在未收到锁定信号时产生第一参考电压,在接收到锁定信号时产生第二参考电压;熔丝模块,设置有多个,每个熔丝模块均与逻辑模块和参考电压模块连接,用于基于烧录时序信号逐次接收对应的第一烧录使能信号或锁定信号从而对对应的熔丝模块进行烧录,并且根据用于接收第一参考电压或第二参考电压,以判断熔丝模块是否烧录成功。本发明专利技术可有效拦截烧录质量不达标或者临界的芯片。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及芯片筛选,具体涉及一种熔丝烧录质量的筛选电路、芯片筛选方法及芯片


技术介绍

1、芯片制造厂(fab)所生产的熔丝,不可避免的会遭受工艺波动,所生产的熔丝会有偶发性的质量问题,如初始阻值偏大或者无法烧断等。芯片在批量生产时,烧录环节也会受到周围环境(如电压波动、耦合毛刺等)的影响。

2、这些不良因素会导致芯片进行批量熔断活动时,会产生熔丝质量差的情况。具体表现为:

3、case1:熔不断,比较器判定不出熔断后的正确逻辑;

4、case2:熔断质量极差,导致比较器未判定出逻辑;

5、case3:熔断质量较差(接近比较器判定阈值,熔丝质量临界),比较器判定出正确的逻辑,但在高低温恶劣环境或者长时间使用后,熔断后的熔丝会部分长回,导致比较器判定逻辑再次反转,出现判定逻辑反复跳转。

6、其中,case1和case2在生产阶段可通过芯片预期修调性能来筛除、拦截,而对于case3,由于暂时性的表现熔断性能合格,未被有效筛选,造成使用过程中的隐患,如图6所示。

7、因此,专利申请号20本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种熔丝烧录质量的筛选电路,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的一种熔丝烧录质量的筛选电路,其特征在于,所述逻辑模块包括烧录逻辑产生单元、反相器INV0和与非单元,其中,

3.根据权利要求2所述的一种熔丝烧录质量的筛选电路,其特征在于,所述参考电压模块包括多路复用器MUX和供电单元,其中,

4.根据权利要求3所述的一种熔丝烧录质量的筛选电路,其特征在于,所述供电单元包括由三个串联的电阻组成的串联链路,且所述串联链路的第一端接地,所述串联链路的第二端与电源连接,所述多路复用器的第一输入端和第二输入端分别连接在位于中间位置的电阻两侧,且所述第一...

【技术特征摘要】

1.一种熔丝烧录质量的筛选电路,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的一种熔丝烧录质量的筛选电路,其特征在于,所述逻辑模块包括烧录逻辑产生单元、反相器inv0和与非单元,其中,

3.根据权利要求2所述的一种熔丝烧录质量的筛选电路,其特征在于,所述参考电压模块包括多路复用器mux和供电单元,其中,

4.根据权利要求3所述的一种熔丝烧录质量的筛选电路,其特征在于,所述供电单元包括由三个串联的电阻组成的串联链路,且所述串联链路的第一端接地,所述串联链路的第二端与电源连接,所述多路复用器的第一输入端和第二输入端分别连接在位于中间位置的电阻两侧,且所述第一参考电压小于第二参考电压。

5.根据权利要求2所述的一种熔丝烧录质量的筛选电路,其特征在于,所述熔丝模块包括pmos管mp、nmos管mn、熔丝单元fuse、熔丝偏置电流源和比较器cmp,其中,所述pmos管mp的栅极与所述与非单元nand0的输出端连接,用于接收所述第一烧录使能信号,所述nmos管mn的栅极与所述逻辑烧录产生模块其中一个对应输出烧录时序信号的输出端连接,用于接收所述烧录时序信号,所述pmos管mp的漏极通过串联所述熔丝单元fuse与所述nmos管mn的漏极连接,所述nmos管mn的源极接地,且所述熔丝偏置电流源的正极与所述...

【专利技术属性】
技术研发人员:马炜涛赵翔
申请(专利权)人:成都芯进电子股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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