【技术实现步骤摘要】
本申请涉及芯片保护，具体而言，涉及一种芯片过流保护方法、系统、电子设备、计算机存储介质。
技术介绍
1、传统过流保护通常是基于总电流检测的方法，它检测整个屏幕的总输入电流。在屏幕局部高亮（低apl）时，总电流可能远低于电流保护阈值，无法触发过流保护，可能会造成显示驱动芯片内部电路过热损坏或者显示异常（如亮点、暗线、闪烁）等严重后果。传统过流保护方法，在显示驱动芯片工作在局部高亮模式期间，系统的apr（数字逻辑控制电路）会用逐行扫描的方法统计一帧图像所有像素的亮度信息，得到apl值，然后将apl值与过流保护的阈值进行比较，判断在下一帧是否要退出局部高亮模式，以此来对显示驱动芯片进行保护。传统检测方法只能等到一帧结束后才能处理，对于局部电流过大区域并不能及时的进行保护。
技术实现思路
1、有鉴于此，本申请实施例的目的在于提供一种芯片过流保护方法、系统、电子设备、计算机存储介质，以改善现有技术中存在的不能及时保护的问题。
2、第一方面，本申请实施例提供一种芯片过流保护方法，所述方法包...
【技术保护点】
1.一种芯片过流保护方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述亮度数据计算行亮度均值，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述比较所述行亮度均值与所述行显示阈值，并根据比较结果判断所述显示模式是否需要改变，包括：
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，其中，所述显示模式包括：第一模式和第二模式；所述第一模式用于整体亮度显示，所述第二模式用于局部亮度显示；
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述比较所述行亮度均值与所述行显示阈值，并根据比较结果判断所述...
【技术特征摘要】
1.一种芯片过流保护方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述亮度数据计算行亮度均值，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述比较所述行亮度均值与所述行显示阈值，并根据比较结果判断所述显示模式是否需要改变，包括：
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，其中，所述显示模式包括：第一模式和第二模式；所述第一模式用于整体亮度显示，所述第二模式用于局部亮度显示；
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述比较所述行亮度均值与所述行显示阈值，并根据比较结果判断所述显示模式是否需要改变，包括：
6.根据权利要求5所述的方法，...
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